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龍圖騰網(wǎng)獲悉江蘇科技大學(xué);江陰捷芯電子科技有限公司申請的專利一種用于集成電路測試的全合成精密測量單元獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN116298817B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-08發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202310373088.0，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該發(fā)明授權(quán)一種用于集成電路測試的全合成精密測量單元是由李明澤;馬國軍;張奕凡;張龍;仲重光;姜煊;程理澤;朱勤華;王璐設(shè)計研發(fā)完成，并于2023-04-10向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種用于集成電路測試的全合成精密測量單元在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了本發(fā)明為一種用于集成電路測試的全合成精密測量單元，該精密測量單元包括全數(shù)字DAC模塊、全合成ADC模塊以及增益測量模塊組成的精密測量單元。全數(shù)字DAC模塊由DDR?DDPM和LPF合成，用于為DUT提供激勵。全合成ADC由全數(shù)字子DAC、電壓比較器和SAR邏輯合成，用于DUT數(shù)據(jù)讀取。增益測量模塊由模擬元件構(gòu)成，提供增益以及測試向量間的轉(zhuǎn)換功能。本發(fā)明可解決進口PMU芯片成本過高及減少電容寄生效應(yīng)提高精度等優(yōu)點。

本發(fā)明授權(quán)一種用于集成電路測試的全合成精密測量單元在權(quán)利要求書中公布了：1.一種用于集成電路測試的全合成精密測量單元，其特征在于，包括：全數(shù)字DAC模塊，全合成ADC模塊，增益測量模塊； 所述全數(shù)字DAC模塊采用FPGA與低通濾波器LPF合成全數(shù)字DAC模塊，F(xiàn)PGA向低通濾波器LPF輸入不同占空比的脈沖，經(jīng)由低通濾波器LPF濾波后實現(xiàn)低紋波的直流電壓輸出，實現(xiàn)DAC的功能，為增益測量模塊提供激勵； 所述全合成ADC模塊，由全數(shù)字子DAC、電壓比較器和SAR邏輯合成，用于采集DUT的測量信息，實現(xiàn)模擬信息到數(shù)字信息的轉(zhuǎn)換； 增益測量模塊，由模擬元件構(gòu)成，包含多個增益放大器，可實現(xiàn)電壓激勵轉(zhuǎn)換為電流激勵以及鉗位保護功能，通過FVMI和FIMV方式對DUT進行測量。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人江蘇科技大學(xué);江陰捷芯電子科技有限公司，其通訊地址為：212003 江蘇省鎮(zhèn)江市京口區(qū)夢溪路2號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。