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龍圖騰網(wǎng)獲悉北京航天測(cè)控技術(shù)有限公司申請(qǐng)的專利一種測(cè)試系統(tǒng)、方法及控制設(shè)備獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN115981281B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-08發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202211659820.2，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G05B23/02；該發(fā)明授權(quán)一種測(cè)試系統(tǒng)、方法及控制設(shè)備是由王紅弟;朱宏飛;霍俊明;張欣;孫宇蛟;狄龍?jiān)O(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-12-20向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種測(cè)試系統(tǒng)、方法及控制設(shè)備在說(shuō)明書摘要公布了：本發(fā)明實(shí)施例涉及一種測(cè)試系統(tǒng)、方法及控制設(shè)備，包括：轉(zhuǎn)接設(shè)備、PXI測(cè)控設(shè)備和測(cè)試轉(zhuǎn)接線纜；轉(zhuǎn)接設(shè)備包括：電源模塊、單元電路板，單元電路板上設(shè)置有多個(gè)連接器和測(cè)試模塊；PXI測(cè)控設(shè)備包括：控制器模塊、多個(gè)被測(cè)模塊和多路選擇器；每個(gè)被測(cè)模塊通過(guò)測(cè)試轉(zhuǎn)接線纜與對(duì)應(yīng)的連接器連接；多路選擇器與多個(gè)連接器連接，用于控制每個(gè)連接器和對(duì)應(yīng)的被測(cè)模塊的通斷；控制器模塊與電源模塊連接，用于控制電源模塊輸出目標(biāo)信號(hào)，以通過(guò)目標(biāo)信號(hào)控制測(cè)試模塊對(duì)被測(cè)模塊進(jìn)行測(cè)試。由此可以實(shí)現(xiàn)PXI測(cè)控設(shè)備的并行測(cè)試，以及測(cè)試項(xiàng)目的自由選擇，可以對(duì)單個(gè)項(xiàng)目的自動(dòng)測(cè)試，還能完成多個(gè)項(xiàng)目的自動(dòng)切換及連續(xù)測(cè)試，提高了測(cè)試效率和測(cè)試多樣性。

本發(fā)明授權(quán)一種測(cè)試系統(tǒng)、方法及控制設(shè)備在權(quán)利要求書中公布了：1.一種測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：轉(zhuǎn)接設(shè)備、PXI測(cè)控設(shè)備和測(cè)試轉(zhuǎn)接線纜； 所述轉(zhuǎn)接設(shè)備包括：電源模塊、單元電路板，所述單元電路板上設(shè)置有多個(gè)連接器和測(cè)試模塊； 所述PXI測(cè)控設(shè)備包括：控制器模塊、多個(gè)被測(cè)模塊和多路選擇器； 每個(gè)所述被測(cè)模塊通過(guò)所述測(cè)試轉(zhuǎn)接線纜與對(duì)應(yīng)的連接器連接； 所述多路選擇器與多個(gè)所述連接器連接，用于控制每個(gè)所述連接器和對(duì)應(yīng)的被測(cè)模塊的通斷； 所述控制器模塊與所述電源模塊連接，用于控制所述電源模塊輸出目標(biāo)信號(hào)，以通過(guò)所述目標(biāo)信號(hào)控制所述測(cè)試模塊對(duì)所述被測(cè)模塊進(jìn)行測(cè)試； 所述測(cè)試模塊還包括：AD采集單元、開關(guān)轉(zhuǎn)換單元、脈沖發(fā)生單元； 所述開關(guān)轉(zhuǎn)換單元，用于將所述目標(biāo)信號(hào)劃分成第一目標(biāo)信號(hào)和第二目標(biāo)信號(hào)，將所述第一目標(biāo)信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后發(fā)送至AD采集單元，以及將所述第二目標(biāo)信號(hào)發(fā)送至脈沖發(fā)生單元； 所述AD采集單元，用于對(duì)基于所述數(shù)字信號(hào)對(duì)所述被測(cè)模塊中的AD模塊進(jìn)行采集； 所述脈沖發(fā)生單元，用于基于所述第二目標(biāo)信號(hào)控制所述被測(cè)模塊中的時(shí)序測(cè)量模塊對(duì)所述被測(cè)模塊進(jìn)行測(cè)試。

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