北京航空航天大學柴真獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京航空航天大學申請的專利一種基于全反射倏逝場的磁場測量裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116106794B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211316798.1，技術領域涉及：G01R33/032；該發明授權一種基于全反射倏逝場的磁場測量裝置是由柴真;孫潔;袁珩設計研發完成，并于2022-10-26向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于全反射倏逝場的磁場測量裝置在說明書摘要公布了：一種基于全反射倏逝場的磁場測量裝置，有利于通過采用微觀尺度的倏逝光場作為泵浦光和檢測光作用于堿金屬原子氣室，從而為研制下一代芯片級磁強計提供技術支撐，其特征在于，包括具有第一折射率n1的堿金屬原子氣室和與其形成結合界面的具有第二折射率n2的光路介質器件，n1＜n2，所述光路介質器件的入射光在所述結合界面上形成微觀尺度的倏逝場，所述倏逝場作為與所述堿金屬原子氣室作用的泵浦光和檢測光，使得所述入射光的反射光光強和偏振度均發生改變，通過差分檢測裝置對所述反射光進行檢測，從而實現磁場測量。
本發明授權一種基于全反射倏逝場的磁場測量裝置在權利要求書中公布了：1.一種基于全反射倏逝場的磁場測量裝置，其特征在于，包括具有第一折射率n1的堿金屬原子氣室和與其形成結合界面的具有第二折射率n2的光路介質器件，n1＜n2，所述光路介質器件的入射光在所述結合界面上形成微觀尺度的倏逝場，所述倏逝場作為與所述堿金屬原子氣室作用的泵浦光和檢測光，使得所述入射光的反射光光強和偏振度均發生改變，通過差分檢測裝置對所述反射光進行檢測，從而實現磁場測量； 所述光路介質器件為直角棱鏡，所述直角棱鏡的斜邊與所述堿金屬原子氣室的底邊形成結合界面，所述直角棱鏡的第一直角邊法線與入射光的夾角為α，所述第一直角邊法線與斜邊入射光的夾角為αt，所述斜邊法線與所述斜邊入射光的夾角為i1，所述斜邊法線與反射光的夾角為全反射角ic，i1＝ic，所述反射光從所述直角棱鏡的第二直角邊出射到所述差分檢測裝置，各相關參數按照以下公式計算以保證入射光束在直角棱鏡斜表面發生全反射： αt+i1＝45° sinα＝n2sinαt
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京航空航天大學，其通訊地址為：100191 北京市海淀區學院路37號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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