致真精密儀器(青島)有限公司孫天然獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉致真精密儀器(青島)有限公司申請的專利一種磁性檢測裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120065086B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510542862.5,技術領域涉及:G01R33/12;該發明授權一種磁性檢測裝置是由孫天然;杜洪磊;張學瑩設計研發完成,并于2025-04-28向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種磁性檢測裝置在說明書摘要公布了:本發明公開了一種磁性檢測裝置,屬于磁光克爾效應檢測技術領域,用于解決現有的磁光克爾檢測裝置檢測的極向、縱向檢測結果難以進行檢測位置的匹配的技術問題。裝置包括第一偏振光源、第一分光鏡、鏡頭組件、第一檢偏器、第一光電傳感器;第二偏振光源、第二檢偏器、第二光電傳感器;自第一偏振光源射出的第一偏振光經第一分光鏡從第一光路通道垂直入射被測物的被測位置,經被測物反射的第一偏振光經第一光路通道、第一檢偏器照射至第一光電傳感器;自第二偏振光源射出的第二偏振光經第二光路通道沿預設傾角入射被測物,被測物反射的第二偏振光經第二光路通道、第二檢偏器并照射至第二光電傳感器。
本發明授權一種磁性檢測裝置在權利要求書中公布了:1.一種磁性檢測裝置,其特征在于,所述裝置包括: 第一偏振光源、第一分光鏡、鏡頭組件、第一檢偏器、第一光電傳感器;第二偏振光源、第二檢偏器、第二光電傳感器; 所述鏡頭組件沿軸向設置有第一光路通道,所述鏡頭組件沿軸向對稱設置有第二光路通道; 所述第二光路通道中設置有反射元件,自所述第二偏振光源射出的第二偏振光經所述反射元件反射后沿預設傾角入射被測物,被測物反射的第二偏振光經所述反射元件反射后經第二檢偏器照射至第二光電傳感器;所述反射元件為平面鏡或弧面鏡; 自所述第一偏振光源射出的第一偏振光經所述第一分光鏡并從所述第一光路通道垂直入射被測物的被測位置,經被測物反射的所述第一偏振光經所述第一光路通道、第一檢偏器并照射至第一光電傳感器; 自所述第二偏振光源射出的第二偏振光經所述第二光路通道沿預設傾角入射被測物的被測位置,被測物反射的第二偏振光經所述第二光路通道、第二檢偏器并照射至第二光電傳感器; 所述第二偏振光源設置有兩個,所述第二光電傳感器設置有兩個,兩個所述第二偏振光源分別發出第二偏振光,兩束所述第二偏振光分別沿所述鏡頭組件軸向對稱入射所述第二光路通道;經被測物反射的兩束所述第二偏振光分別入射相應的所述第二光電傳感器; 在左側第二光路通道中入射到被測物上的第二偏振光,會在被被測物反射后從右側第二光路通道中射出,右側第二光路通道中同時還有正在入射的第二偏振光;在第二偏振光的路徑中設置第二分光鏡,以將光路共用的兩束光區分開; 經被測物反射的兩束第二偏振光分別入射相應的第二光電傳感器,可通過分析得到兩個縱向磁光克爾信號,進而能夠降低噪聲信號、增強面內方向的磁性的檢測精度。
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