安徽中科超安科技有限公司請求不公布姓名獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉安徽中科超安科技有限公司申請的專利一種輻射場監測探測點的確定方法、系統、介質及設備獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115932931B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202211223756.3,技術領域涉及:G01T1/167;該發明授權一種輻射場監測探測點的確定方法、系統、介質及設備是由請求不公布姓名設計研發完成,并于2022-10-08向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種輻射場監測探測點的確定方法、系統、介質及設備在說明書摘要公布了:本發明屬于輻射探測技術領域,尤其涉及一種輻射場監測探測點的確定方法、系統、介質及設備。該方法包括基于輻射場的物理信息以及幾何信息計算每個放射源的探測器響應函數;根據每個放射源的探測器響應函數,確定每個放射源在不同空間位置上的品質因子,基于預設條件在所有品質因子中確定至少兩個優選探測點;計算任意兩個優選探測點之間的相關性因子;利用探測點確認法對相關性因子進行處理,得到最終探測點。本發明基于品質因子的確定避免布置方案中可能出現的探測器對源響應弱,導致探測器浪費的現象;基于相關性因子的確定避免可能出現的多個探測器對同一放射源響應敏感,無法兼顧到各個放射源的現象。
本發明授權一種輻射場監測探測點的確定方法、系統、介質及設備在權利要求書中公布了:1.一種輻射場監測探測點的確定方法,其特征在于,包括: 步驟1,獲取輻射場的物理信息以及幾何信息,基于所述物理信息以及所述幾何信息計算每個放射源的探測器響應函數; 步驟2,根據每個放射源的探測器響應函數,確定每個放射源在不同空間位置上的品質因子,基于預設條件在所有品質因子中確定至少兩個優選探測點; 步驟3,計算任意兩個優選探測點之間的相關性因子; 步驟4,利用探測點確認法對相關性因子進行處理,得到最終探測點; 所述步驟2具體為: 通過第一公式計算每個放射源在不同空間位置上的品質因子FOMr,所述第一公式為: 其中,fir為放射源Si全空間各位置r處的探測器響應函數,N為放射源個數; 所述預設條件為:降序排列品質因子,將選取的預設數量的品質因子對應的放射源所對應的空間位置作為優選探測點,基于預設條件在所有品質因子中確定至少兩個優選探測點; 所述步驟4具體為: 所述探測點確認法為: 將相關性因子最大的兩個優選探測點作為第一批最終探測點,將剩余所有非第一批最終探測點的優選探測點作為待探測點集,分別計算所述待探測點集中每個優選探測點與每個第一批最終探測點之間的第一相關性因子,基于第一相關性因子確認所述待探測點集中每個優選探測點的相關性因子之和,將所述相關性因子之和最大的優選探測點確定為新最終探測點,將所述新最終探測點與相關性因子最大的兩個優選探測點作為新第一批最終探測點; 重復所述探測點確認法直至所述新第一批最終探測點的個數滿足預設要求,將滿足預設要求的所述新第一批最終探測點作為最終探測點。
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