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龍圖騰網獲悉陜西澳威激光科技有限公司申請的專利一種光模塊封裝材料缺陷檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120355706B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510837375.1，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權一種光模塊封裝材料缺陷檢測方法是由石元;杜琪;高星;王苑亮設計研發完成，并于2025-06-23向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種光模塊封裝材料缺陷檢測方法在說明書摘要公布了：本申請涉及圖像處理技術領域，尤其涉及一種光模塊封裝材料缺陷檢測方法；基于分割閾值對圖像進行分割，形成多個分割區域；對于各分割區域，基于各分割區域中像素點的灰度特征，計算當前分割區域劃分的區域合理度，將各區域合理度的乘積作為分割區間合理度；響應于分割區間合理度大于預設的合理閾值，將分割后的圖像作為分割圖像進行缺陷檢測；響應于分割區間合理度小于等于預設的合理閾值，優化分割閾值，獲取最優分割邊界，將基于最優分割邊界分割的圖像作為分割圖像，基于分割圖像進行缺陷檢測。本申請具有提高光模塊封裝材料表面腐蝕區域識別和提取的準確度的效果。

本發明授權一種光模塊封裝材料缺陷檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種光模塊封裝材料缺陷檢測方法，其特征在于，包括步驟：獲取光模塊封裝材料表面圖像的灰度直方圖，確定灰度直方圖中的兩個峰值點的位置；兩個峰值點包括第一峰值點和第二峰值點，第一峰值點對應的灰度值小于第二峰值點對應的灰度值；基于兩個峰值點的位置確定兩個分割閾值，兩個分割閾值分別為左分割閾值和右分割閾值；將第一峰值點和第二峰值點之間的最低谷點的灰度值作為左分割閾值；獲取灰度直方圖的一階導數，將直方圖中灰度值大于第二峰值點的區域中的一階導數的最小值對應的位置的灰度值作為右分割閾值；基于分割閾值對圖像進行分割，形成多個分割區域；對于各分割區域，基于各分割區域中像素點的灰度特征，計算當前分割區域劃分的區域合理度，具體包括：基于分割區域中的像素點進行區域生長，得到多個疑似區域，計算疑似區域的局部合理度，將多個局部合理度的均值作為分割區域對應的區域合理度；其中，分割區域包括：腐蝕區域、陰影區域以及背景區域；將各區域合理度的乘積作為分割區間合理度；響應于分割區間合理度大于預設的合理閾值，將分割后的圖像作為分割圖像進行缺陷檢測；響應于分割區間合理度小于等于預設的合理閾值，優化分割閾值，獲取最優分割邊界，具體包括：兩個分割閾值之間構成陰影灰度區間；在預設范圍內滑動陰影灰度區間的邊界，構建調整區間，并計算調整區間對應的區間權重；獲取調整區間對應的分割區域的區域合理度，將區域合理度與對應區間權重的乘積作為該調整區間的認可度；將認可度最大陰影灰度區間作為最優區間，將最優區間的邊界值作為最優分割邊界，將基于最優分割邊界分割的圖像作為分割圖像，基于分割圖像進行缺陷檢測。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人陜西澳威激光科技有限公司，其通訊地址為：727100 陜西省銅川市新區緯九路新材料產業園區院內；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。