沐曦集成電路(南京)有限公司苗鑫獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉沐曦集成電路(南京)有限公司申請的專利跨Die數據通路的設計方法、裝置、電子設備、可讀存儲介質和程序產品獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120046552B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510534506.9，技術領域涉及：G06F30/33；該發明授權跨Die數據通路的設計方法、裝置、電子設備、可讀存儲介質和程序產品是由苗鑫;黃青云;孔超;邱振華設計研發完成，并于2025-04-27向國家知識產權局提交的專利申請。
本跨Die數據通路的設計方法、裝置、電子設備、可讀存儲介質和程序產品在說明書摘要公布了：本申請涉及一種跨Die數據通路的設計方法、裝置、電子設備、可讀存儲介質和程序產品。通過對芯片跨Die數據通路進行階段設計，產生跨Die數據通路每個階段的RTL代碼，并對芯片硬件HW驗證按模式劃分，將每個階段的RTL代碼作為待測設計DUT與驗證平臺連接，進行跨Die數據通路不同模式下的功能驗證，并選擇不同階段的RTL代碼進行芯片軟件SW測試，以進行跨Die數據通路的功能測試。其通過對芯片跨Die數據通路進行階段設計，簡化了設計流程，降低了設計復雜度；通過將每個階段的RTL代碼作為待測設計DUT與驗證平臺連接進行驗證及軟件測試，提高了驗證的靈活性和效率，增加了芯片軟件測試的可靠性。
本發明授權跨Die數據通路的設計方法、裝置、電子設備、可讀存儲介質和程序產品在權利要求書中公布了：1.一種跨Die數據通路的設計方法，其特征在于，所述方法包括： 對芯片硬件HW設計按階段劃分，產生跨Die數據通路每個階段的RTL代碼； 對芯片硬件HW驗證按模式劃分，將每個階段的所述RTL代碼作為待測設計DUT與驗證平臺連接，進行跨Die數據通路不同模式下的功能驗證； 對不同階段的所述RTL代碼進行芯片軟件SW測試，以進行跨Die數據通路的功能測試； 所述對芯片硬件HW設計按階段劃分，產生跨Die數據通路每個階段的RTL代碼，包括： 根據跨Die數據通路的功能需求，將芯片硬件HW設計劃分為多個階段； 針對每個階段，生成對應階段的功能設計代碼、空殼設計代碼和調試回環設計代碼，作為所述階段的RTL代碼；針對每個階段的調試回環設計代碼，通過配置開關控制打開或關閉。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人沐曦集成電路(南京)有限公司，其通訊地址為：211800 江蘇省南京市浦口區浦口經濟開發區雙峰路69號A-14；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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