西安維測立航空電子科技有限公司高超獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉西安維測立航空電子科技有限公司申請的專利一種航空結構件表面裂紋的檢測方法、裝置、設備及介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120047440B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510517708.2,技術領域涉及:G06T7/00;該發明授權一種航空結構件表面裂紋的檢測方法、裝置、設備及介質是由高超;曾軍;劉奇偉;張景濤設計研發完成,并于2025-04-24向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種航空結構件表面裂紋的檢測方法、裝置、設備及介質在說明書摘要公布了:本發明涉及圖像識別技術領域,公開了一種航空結構件表面裂紋的檢測方法、裝置、設備及介質。該方法包括:獲取待檢測的航空結構件的目標圖像;基于航空結構件表面裂紋的多種不同方向,沿每個方向遍歷目標圖像中的像素點,以通過目標圖像中各像素點之間的灰度值差異,從目標圖像中提取出包含航空結構件表面裂紋寬度信息的初始裂紋圖像;根據初始裂紋圖像的二值化圖像與多個模板裂紋圖像之間的亮度差異,從初始裂紋圖像中提取出包含航空結構件表面裂紋骨架信息的目標裂紋圖像;模板裂紋圖像為基于航空結構件表面裂紋的不同方向和不同寬度創建的二值矩陣對應的二值化圖像;通過目標裂紋圖像對航空結構件表面裂紋進行檢測,以提升裂紋檢測的準確度。
本發明授權一種航空結構件表面裂紋的檢測方法、裝置、設備及介質在權利要求書中公布了:1.一種航空結構件表面裂紋的檢測方法,其特征在于,所述方法包括: 獲取待檢測的航空結構件的目標圖像; 基于航空結構件表面裂紋的多種不同方向,分別沿每個方向遍歷目標圖像中的像素點,以通過目標圖像中各個像素點之間的灰度值差異,從目標圖像中提取出包含航空結構件表面裂紋寬度信息的初始裂紋圖像; 根據初始裂紋圖像的二值化圖像分別與多個模板裂紋圖像之間的亮度差異,從初始裂紋圖像中提取出包含航空結構件表面裂紋骨架信息的目標裂紋圖像;其中,初始裂紋圖像的二值化圖像中與模板裂紋圖像之間亮度差異小的區域判斷為裂紋;多個模板裂紋圖像分別為基于航空結構件表面裂紋的不同方向和不同寬度創建的二值矩陣對應的二值化圖像,所述二值矩陣包含分別針對航空結構件表面水平方向、垂直方向、左斜方向以及右斜方向的裂紋創建的二值矩陣,水平方向的二值矩陣用于檢測水平方向的裂紋,其中中間一行的指定寬度賦值為255,垂直方向的二值矩陣用于檢測垂直方向的裂紋,其中中間一列的指定高度賦值為255,左斜方向的二值矩陣用于檢測從左上到右下的裂紋,其中左對角區域被賦值為255,右斜方向的二值矩陣用于檢測從右上到左下的裂紋,其中右對角區域被賦值為255; 通過目標裂紋圖像對航空結構件表面裂紋進行檢測; 所述目標圖像中包含多個局部區域,所述通過目標裂紋圖像對航空結構件表面裂紋進行檢測,包括: 獲取每個局部區域的灰度值,并根據每個局部區域的灰度值,確定每個局部區域的二值化閾值; 通過每個局部區域的二值化閾值對每個局部區域進行二值化,以獲取目標圖像的二值化圖像;其中,每個局部區域的二值化閾值通過預設參數實時調整; 通過目標圖像的二值化圖像與目標裂紋圖像的交集,對航空結構件表面裂紋進行檢測。
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