合肥埃科光電科技股份有限公司殷亞祥獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉合肥埃科光電科技股份有限公司申請的專利一種表面缺陷檢測方法、裝置、系統及介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120009191B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510504664.X,技術領域涉及:G01N21/01;該發明授權一種表面缺陷檢測方法、裝置、系統及介質是由殷亞祥;羅來富;邵云峰;曹桂平;董寧設計研發完成,并于2025-04-22向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種表面缺陷檢測方法、裝置、系統及介質在說明書摘要公布了:本發明公開了一種表面缺陷檢測方法、裝置、系統及介質,檢測方法包括:控制各光源依次點亮并循環,利用真彩線陣相機對移動的待測物進行拍攝,以獲取真彩線陣相機各通道所采集的原始圖像信息;拆分各通道所采集的原始圖像信息,以使同一光源對應的圖像信息按序進行匯總,從而得到各通道下所有光源對應的子圖;融合各通道下所有光源對應的子圖,計算當前通道下各子圖相同位置對應的所有圖像數據的平均值,以作為對應位置的融合數據,從而得到待測物表面的彩色信息;提取任意通道下所有光源對應的子圖,基于各光源的角度信息計算光度立體圖,以得到凹凸信息。本發明能夠在降低成本的同時,提高檢測效率,實現了彩色信息和凹凸信息的同時獲取。
本發明授權一種表面缺陷檢測方法、裝置、系統及介質在權利要求書中公布了:1.一種表面缺陷檢測方法,采集至少三個不同角度的光源在待測物表面形成的圖像信息,以同時獲取待測物表面的彩色信息和凹凸信息,其特征在于,檢測方法包括: 控制各光源依次點亮并循環,利用真彩線陣相機對移動的待測物進行拍攝,以獲取真彩線陣相機各通道所采集的原始圖像信息; 拆分各通道所采集的原始圖像信息,以使同一光源對應的圖像信息按序進行匯總,從而得到各通道下所有光源對應的子圖; 融合各通道下所有光源對應的子圖,計算當前通道下各子圖相同位置對應的所有圖像數據的平均值,以作為對應位置的融合數據,從而得到待測物表面的彩色信息; 提取任意通道下所有光源對應的子圖,基于各光源的角度信息計算光度立體圖,以得到待測物表面的凹凸信息; 其中,原始圖像信息的起始端與真彩線陣相機末位像素行首次采集時,首位像素行采集到的數據相對應,原始圖像信息的結束端與真彩線陣相機末位像素行采集到的末位數據相對應,其中,首位像素行為首先采集到圖像數據的像素行,末位像素行為最后采集到圖像數據的像素行; 通過丟棄各通道起始無效數據以確定起始端,通過丟棄各通道的結束無效數據以確定結束端; 其中,起始無效數據滿足公式:D1=a+1k-1;結束無效數據滿足公式:D2=a+1n-k; D1為起始無效數據對應的行數據數量,D2為結束無效數據對應的行數據數量,a為真彩線陣相機的像素間距與像素寬度的比值,n為真彩線陣相機的像素行總數,k為真彩線陣相機當前像素行的序列數。
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