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龍圖騰網獲悉北京航空航天大學申請的專利基于磁場自由線投影解碼的多色磁粒子成像方法和系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119969992B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510449360.8，技術領域涉及：A61B5/0515；該發明授權基于磁場自由線投影解碼的多色磁粒子成像方法和系統是由田捷;李光輝;安羽;李怡濛;陳梓威設計研發完成，并于2025-04-11向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于磁場自由線投影解碼的多色磁粒子成像方法和系統在說明書摘要公布了：本發明屬于生物醫學成像領域，具體涉及一種基于磁場自由線投影解碼的多色磁粒子成像方法和系統，旨在解決現有技術暫無利用磁場自由線進行基于弛豫的多色成像的方法，導致成像效率、質量較低的問題。本發明方法包括：將N種磁納米粒子分別置于成像視野中心進行掃描，并采用時頻分析獲得時頻譜中心譜線；掃描成像對象，采集電壓響應信號并時頻分析，得到時頻譜；構建線性方程組并求解，獲取各未知量；將磁場自由線離散旋轉P個角度，獲取每個角度下的N種磁納米粒子的含量分布；構建N種磁納米粒子的正弦圖，進行反投影重建，得到多色圖像，并疊加，得到重建圖像。本發明實現了利用磁場自由線進行基于弛豫的多色成像，提高了成像效率以及質量。

本發明授權基于磁場自由線投影解碼的多色磁粒子成像方法和系統在權利要求書中公布了：1.一種基于磁場自由線投影解碼的多色磁粒子成像方法，其特征在于，該方法包括以下步驟： S100，將待成像對象中包含的N種磁納米粒子分別置于磁場自由線磁粒子成像設備的成像視野中心進行掃描，掃描后采用時頻分析獲得時頻譜中心譜線，作為所述N種磁納米粒子的特征向量； S200，將所述待成像對象置于所述磁場自由線磁粒子成像設備的成像視野中，采用設定的驅動軌跡掃描所述待成像對象并采集電壓響應信號；對所述電壓響應信號進行時頻分析，得到時頻譜； S300，基于所述N種磁納米粒子的特征向量構建特征矩陣，作為增廣矩陣，以所述時頻譜的譜線作為常數項，以各譜線處N種磁納米粒子的含量分布作為未知量，構建線性方程組并求解，獲取各未知量； S400，以所述待成像對象第一次掃描時磁場自由線對應的角度為初始角度，將磁場自由線離散旋轉P個角度，在各角度下分別進行掃描得到電壓響應信號，并按照S200、S300的方法獲取每個角度下的N種磁納米粒子的含量分布；其中，P為正整數； S500，基于P個角度下的N種磁納米粒子的含量分布，構建N種磁納米粒子的正弦圖；將所述N種磁納米粒子的正弦圖進行反投影重建，得到多色圖像，并疊加，得到重建圖像。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京航空航天大學，其通訊地址為：100083 北京市海淀區學院路37號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。