量子科技長三角產業創新中心盧保軍獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉量子科技長三角產業創新中心申請的專利一種超導量子芯片及其參數確定方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115241366B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210928530.7,技術領域涉及:H10N60/12;該發明授權一種超導量子芯片及其參數確定方法是由盧保軍;楊暉;周慧德;范博;欒添設計研發完成,并于2022-08-03向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種超導量子芯片及其參數確定方法在說明書摘要公布了:本申請公開了一種超導量子芯片及其參數確定方法,涉及量子芯片領域,該超導量子芯片包括芯片襯底和形成于所述芯片襯底上的量子模塊,所述量子模塊包括比特電容單元、讀取線單元、約瑟夫森結單元,所述量子模塊還包括共面波導?階躍阻抗諧振器單元。本申請的超導量子芯片中以共面波導?階躍阻抗諧振器單元來實現諧振器的功能,由于共面波導?階躍阻抗諧振器單元的物理特性,在同一并聯諧振條件下,相比均勻阻抗諧振器,階躍阻抗諧振器的電長度明顯更小,進而縮小了單個量子比特的布局尺寸,使得特定比特數的量子芯片尺寸更小、量子芯片自由度更高,量子芯片集成度提高。
本發明授權一種超導量子芯片及其參數確定方法在權利要求書中公布了:1.一種超導量子芯片的參數確定方法,其特征在于,應用于超導量子芯片,包括: 根據預設精度,確定共面波導-階躍阻抗諧振器單元的每階傳輸線的特征阻抗并作為特征阻抗參數; 計算所有特征線的所述特征阻抗之間的特征阻抗比; 確定所述特征阻抗比下,所述特征線的電長度與總電長度的曲線關系;所述總電長度具體為所有所述特征線的所述電長度的和; 根據所述曲線關系,確定所述總電長度的最小總電長度區間及其對應的所述特征線的電長度區間;最小總長度區間選擇為曲線關系上最小值到最大值之間的前1的區間; 在每階所述特征線的電長度區間內,分別確定對應所述預設精度的所述電長度,以將所述電長度作為所述共面波導-階躍阻抗諧振器單元的每階傳輸線的電長度參數; 所述共面波導-階躍阻抗諧振器單元為共面波導-2階階躍阻抗諧振器單元; 所述計算所有所述特征線的所述特征阻抗之間的特征阻抗比的過程包括: 計算第2階所述特征線的所述特征阻抗和第1階所述特征線的所述特征阻抗的特征阻抗比; 所述確定所述特征阻抗比下,所述特征線的電長度與總電長度的曲線關系的過程,包括: 確定所述特征阻抗比下,第1階所述特征線與總電長度的曲線關系; 所述在每階所述特征線的電長度區間內,分別確定對應所述預設精度的所述電長度的過程,包括: 在第1階所述特征線的電長度區間內,確定對應所述預設精度的所述電長度作為第1階所述特征線的第1階電長度參數; 根據所述曲線關系,確定第1階所述電長度參數對應的所述總電長度; 根據所述總電長度和第1階所述電長度參數,確定第2階所述特征線的第2階電長度參數。
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