松下知識產權經營株式會社橫山潤獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉松下知識產權經營株式會社申請的專利激光加工裝置以及激光加工方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114074213B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110934141.0，技術領域涉及：B23K26/00；該發明授權激光加工裝置以及激光加工方法是由橫山潤;浦島毅吏;武智洋平設計研發完成，并于2021-08-13向國家知識產權局提交的專利申請。
本激光加工裝置以及激光加工方法在說明書摘要公布了：本發明提供一種激光加工裝置以及激光加工方法，該激光加工裝置具有：激光振蕩器，振蕩向被加工物的加工面的加工點照射的加工用激光；耦合鏡，使所述加工用激光以及向所述加工點照射的測定光朝向所述加工點偏轉或者透過；測定光偏轉單元，使所述測定光向所述耦合鏡的入射角變化；透鏡，使所述加工用激光以及所述測定光聚光于所述加工點；控制部，對所述激光振蕩器以及所述測定光偏轉單元進行控制；計測處理部，利用基于由于在所述加工點被反射的測定光和參照光的光路差而產生的干涉的光干涉信號，計測通過照射所述加工用激光而在所述加工點產生的鍵孔的深度；和光束位置測定單元，對所述加工用激光和所述測定光的位置進行測定。
本發明授權激光加工裝置以及激光加工方法在權利要求書中公布了：1.一種激光加工裝置，具有： 激光振蕩器，振蕩向被加工物的加工面的加工點照射的加工用激光； 耦合鏡，使所述加工用激光以及向所述加工點照射的測定光朝向所述加工點偏轉或者透過； 測定光偏轉單元，使所述測定光向所述耦合鏡的入射角變化； 透鏡，使所述加工用激光以及所述測定光聚光于所述加工點； 控制部，對所述激光振蕩器以及所述測定光偏轉單元進行控制； 計測處理部，利用基于由于在所述加工點被反射的測定光和參照光的光路差而產生的干涉的光干涉信號，計測通過照射所述加工用激光而在所述加工點產生的鍵孔的深度；和 光束位置測定單元，對所述加工用激光和所述測定光的位置進行測定。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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