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龍圖騰網(wǎng)獲悉是德科技股份有限公司申請的專利自校準(zhǔn)去扭斜設(shè)備獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN112444768B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-15發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號(hào)為：202010879595.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R35/00；該發(fā)明授權(quán)自校準(zhǔn)去扭斜設(shè)備是由E·V·布魯什設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2020-08-27向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本自校準(zhǔn)去扭斜設(shè)備在說明書摘要公布了：一種去扭斜設(shè)備100包括：第一和第二去扭斜探測點(diǎn)110和120，所述去扭斜探測點(diǎn)用于在去扭斜校準(zhǔn)期間分別接觸第一和第二探針115和125；信號(hào)發(fā)生電路130，所述信號(hào)發(fā)生電路用于生成被提供給所述第一和第二去扭斜探測點(diǎn)110和120的校準(zhǔn)信號(hào)；和反饋回路，所述反饋回路用于自動(dòng)地自校準(zhǔn)所述去扭斜設(shè)備100。

本發(fā)明授權(quán)自校準(zhǔn)去扭斜設(shè)備在權(quán)利要求書中公布了：1.一種用于改善由用于測量被測裝置DUT的電氣參數(shù)的測試儀器對第一探針和第二探針執(zhí)行的去扭斜校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度的去扭斜設(shè)備，所述去扭斜設(shè)備包括： 第一去扭斜探測點(diǎn)，所述第一去扭斜探測點(diǎn)被配置為在與所述第一探針接觸時(shí)接收第一校準(zhǔn)信號(hào)； 第二去扭斜探測點(diǎn)，所述第二去扭斜探測點(diǎn)被配置為在與所述第二探針接觸時(shí)接收第二校準(zhǔn)信號(hào)；以及 用于自動(dòng)地自校準(zhǔn)所述去扭斜設(shè)備的反饋回路，所述反饋回路包括： 第一模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC，所述第一模數(shù)轉(zhuǎn)換器被配置為對所述第一去扭斜探測點(diǎn)處的所述第一校準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行數(shù)字化以提供第一數(shù)字化校準(zhǔn)信號(hào)； 第二ADC，所述第二ADC被配置為對所述第二去扭斜探測點(diǎn)處的所述第二校準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行數(shù)字化以提供第二數(shù)字化校準(zhǔn)信號(hào)；以及 處理單元，所述處理單元被編程為使用所述第一數(shù)字化校準(zhǔn)信號(hào)和所述第二數(shù)字化校準(zhǔn)信號(hào)來確定所述去扭斜設(shè)備在所述第一去扭斜探測點(diǎn)與所述第二去扭斜探測點(diǎn)之間的固有扭斜，并且調(diào)整所述第一校準(zhǔn)信號(hào)或所述第二校準(zhǔn)信號(hào)中的至少一者的時(shí)序。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人是德科技股份有限公司，其通訊地址為：美國加利福尼亞州；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。