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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利空間望遠鏡帶通相機的鬼像分析方法、設備及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120352117B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510851882.0，技術領域涉及：G01M11/02；該發明授權空間望遠鏡帶通相機的鬼像分析方法、設備及存儲介質是由咸競天;王維;張天一;潘頌;湯世杰;徐抒巖設計研發完成，并于2025-06-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本空間望遠鏡帶通相機的鬼像分析方法、設備及存儲介質在說明書摘要公布了：本發明屬于光學測試技術領域，尤其涉及空間望遠鏡帶通相機的鬼像分析方法、設備及存儲介質；空間望遠鏡帶通相機的鬼像分析方法包括步驟：獲取空間望遠鏡帶通相機的方孔徑角；測量濾光片的透過率和反射率，濾光片的前表面的透射率為，濾光片的后表面的透射率為，濾光片的前表面的反射率為，濾光片的后表面的反射率為；測量探測器的反射率，探測器的表面的反射率為；測量濾光片的厚度，測量濾光片與探測器之間的距離；通過鬼像的照度分布函數以及能量、半徑、坐標計算公式等進行鬼像分析；本發明首次達成了量化分析鬼像具體的位置、形狀、量級，能夠用于科學仿真圖像的生成。

本發明授權空間望遠鏡帶通相機的鬼像分析方法、設備及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種空間望遠鏡帶通相機的鬼像分析方法，其特征在于：所述空間望遠鏡帶通相機包括濾光片和探測器，所述空間望遠鏡帶通相機的鬼像包括第一鬼像、第二鬼像和第三鬼像；所述第一鬼像為所述濾光片的前表面和所述濾光片的后表面兩次反射形成；所述第二鬼像為所述濾光片的后表面和所述探測器的表面兩次反射形成；所述第三鬼像為所述濾光片的前表面和所述探測器的表面兩次反射形成； 所述空間望遠鏡帶通相機的鬼像分析方法包括步驟： S1.獲取所述空間望遠鏡帶通相機的出瞳口徑和出瞳到像面的光路距離，進而獲得像方孔徑角； S2.測量所述濾光片的透過率和反射率，所述濾光片的前表面的透射率為，所述濾光片的后表面的透射率為，所述濾光片的前表面的反射率為，所述濾光片的后表面的反射率為； S3.測量所述探測器的反射率，所述探測器的表面的反射率為； S4.測量所述濾光片的厚度，測量所述濾光片與所述探測器之間的距離； S5.通過鬼像的照度分布函數進行鬼像分析，所述照度分布函數為； 為所述第一鬼像的照度，為所述第二鬼像的照度，為所述第三鬼像的照度；代表以為圓心，為半徑的圓盤函數；為所述第一鬼像的半徑，為所述第二鬼像的半徑，為所述第三鬼像的半徑。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，其通訊地址為：130033 吉林省長春市經濟技術開發區東南湖大路3888號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。