上海捷策創電子科技有限公司顧培東獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉上海捷策創電子科技有限公司申請的專利一種測試針獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114384285B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210074083.3,技術領域涉及:G01R1/067;該發明授權一種測試針是由顧培東;張彤設計研發完成,并于2022-01-21向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種測試針在說明書摘要公布了:本發明屬于芯片或元器件測試技術領域,公開了一種測試針。該測試針包括測試針體、套接件和彈性件,測試針體包括相對設置的接觸端和連接端,接觸端用于與測試點接觸,若干個測試針體平行設置;套接件的一端滑動套設于連接端,套接件的另一端用于與線路板的第一表面及線路板的連接孔的孔壁接觸;彈性件的一端與連接端連接,彈性件的另一端與套接件連接,彈性件被配置為能提供給測試針體推力。本發明提供的測試針,通過設置套接件,套接件與線路板的第一表面及線路板的連接孔的孔壁接觸,增大了測試針與線路板的接觸面積,進一步增大了測試針測試時通過的電流。該測試針結構簡單,便于拆卸,適用于大電流測試件的測試,應用范圍廣。
本發明授權一種測試針在權利要求書中公布了:1.一種測試針,其特征在于,包括: 測試針體(1),所述測試針體(1)包括相對設置的接觸端和連接端,所述接觸端用于與測試點接觸,若干個所述測試針體(1)相互平行設置; 套接件(2),所述套接件(2)的一端滑動套設于所述連接端,所述套接件(2)的另一端用于與線路板(20)的第一表面(201)及線路板(20)的連接孔的孔壁接觸; 所述套接件(2)為圓筒狀結構,所述套接件(2)包括沿軸向依次相連的第一筒體(21)、第二筒體(22)和第三筒體(23),所述第一筒體(21)套設于所述測試針體(1),所述第二筒體(22)的外徑大于所述第三筒體(23)的外徑,所述第二筒體(22)遠離所述第一筒體(21)的端面能抵接于所述線路板(20)的所述第一表面(201),所述第三筒體(23)的外壁與所述線路板(20)的連接孔的內壁抵接; 彈性件(3),所述彈性件(3)設于所述第二筒體(22)內并沿所述第二筒體(22)的軸向延伸,所述彈性件(3)被配置為能提供給所述測試針體(1)沿所述第二筒體(22)軸向的推力; 所述測試針還包括固定座(4),所述固定座(4)與所述第三筒體(23)遠離所述第二筒體(22)的一端連接; 所述測試針還包括輔座(6),所述輔座(6)的一端與所述第三筒體(23)遠離所述第二筒體(22)的一端連接,所述輔座(6)與所述線路板(20)的第二表面(202)接觸,所述輔座(6)的另一端與所述固定座(4)連接; 所述測試針還包括輔針(5),所述第二筒體(22)套設于所述輔針(5)的外側,所述輔針(5)的一端與所述輔座(6)連接,所述輔針(5)的另一端與所述連接端連接。
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