上海禾賽科技有限公司于慶國獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉上海禾賽科技有限公司申請的專利用于激光雷達的光學組件檢測系統及激光雷達獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115236639B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202110366067.7,技術領域涉及:G01S7/497;該發明授權用于激光雷達的光學組件檢測系統及激光雷達是由于慶國;宋佳敏;趙鑫;鄒聰聰;向少卿設計研發完成,并于2021-04-06向國家知識產權局提交的專利申請。
本用于激光雷達的光學組件檢測系統及激光雷達在說明書摘要公布了:本發明提供一種用于激光雷達的光學組件檢測系統,光學組件包括發射端光學組件和接收端光學組件,光學組件檢測系統包括:檢測激光器和檢測探測器,其中檢測激光器配置成發射檢測激光束,檢測激光束經過發射端光學組件和或接收端光學組件,出射到激光雷達外部或者入射到檢測探測器;檢測探測器配置成接收檢測激光束或檢測激光束在目標物上反射后并經過接收端光學組件的回波,并轉換為檢測電信號;信號處理單元,與檢測探測器通訊以接收檢測電信號,并配置成根據檢測電信號確定光學組件的工作狀態。通過本發明設計的光學組件檢測系統,可以在雷達工作期間檢測發射端和或接收端光學組件的工作狀態和各光學器件的在位狀態,提高雷達故障檢測效率。
本發明授權用于激光雷達的光學組件檢測系統及激光雷達在權利要求書中公布了:1.一種用于激光雷達的光學組件檢測系統,所述激光雷達的光學組件包括發射端光學組件和接收端光學組件,所述光學組件檢測系統包括: 多個檢測激光器和多個檢測探測器,其中所述檢測激光器配置成發射檢測激光束,所述檢測激光束經過所述發射端光學組件,出射到所述激光雷達外部或者入射到檢測探測器; 所述檢測探測器配置成接收所述檢測激光束或所述檢測激光束在目標物上反射后并經過所述接收端光學組件的回波,并轉換為檢測電信號;和 信號處理單元,與所述檢測探測器通訊以接收所述檢測電信號,并配置成根據所述檢測電信號確定所述光學組件的工作狀態,所述工作狀態包括失位、碎裂或變形; 其中,所述多個檢測激光器包括設置在所述發射端光學組件的光路上游的第一檢測激光器,所述第一檢測激光器配置為發射第一檢測激光束; 所述多個檢測探測器包括設置在所述發射端光學組件的光路下游的第一檢測探測器和設置在所述接收端光學組件的光路下游的第二檢測探測器,其中,所述第一檢測探測器配置為接收所述第一檢測激光束并轉換為第一檢測電信號,所述信號處理單元配置成可根據所述第一檢測電信號,確定所述激光雷達的發射端光學組件的工作狀態。
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