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龍圖騰網獲悉泰克諾森斯股份公司申請的專利具有微米級分辨率的非接觸式尺寸測量裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115398181B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202180028378.0，技術領域涉及：G01B11/26；該發明授權具有微米級分辨率的非接觸式尺寸測量裝置是由亞歷山德羅·科米內利;馬泰奧·佩萊蒂;達尼洛·倫蒂尼設計研發完成，并于2021-03-26向國家知識產權局提交的專利申請。

本具有微米級分辨率的非接觸式尺寸測量裝置在說明書摘要公布了：本發明涉及具有微米級分辨率的非接觸式尺寸測量裝置1，適于測量距設有至少一個反射表面950的物體900的距離。非接觸式尺寸測量裝置1沿軸線X?X延伸并包括：i光源2，產生朝物體900的發射光束Le使得反射表面950產生反射光束Lr；ii定位在光源2的相反側上的光阻隔元件3，及其中，所述光阻隔元件3包括至少一個縫隙30以僅允許反射光束Lr穿過所述縫隙30；iii檢測組5，包括：成像傳感器50，在成像傳感器上檢測穿過縫隙30的反射光束Lr的投影500；處理和控制組件51，其操作性連接至成像傳感器50并適于分析投影500以確定反射表面950的距離和特征。

本發明授權具有微米級分辨率的非接觸式尺寸測量裝置在權利要求書中公布了：1.一種具有微米級分辨率的非接觸式尺寸測量裝置1，所述具有微米級分辨率的非接觸式尺寸測量裝置1適于對距設置有至少一個反射表面950的物體900的距離進行測量，其中，所述具有微米級分辨率的非接觸式尺寸測量裝置1沿著軸線X-X延伸，并且所述具有微米級分辨率的非接觸式尺寸測量裝置1包括： i光源2，所述光源2產生朝向所述物體900的非相干且發散的發射光束Le，以使得所述物體的所述反射表面950產生沿與發射方向基本上相反的反射方向的反射光束Lr； ii光阻隔元件3，所述光阻隔元件3定位在所述光源2的相對于所述發射方向而言相反的側部上，其中，所述光阻隔元件3包括至少一個縫隙30，所述縫隙30適當地成形為使得所述光阻隔元件3僅允許所述反射光束Lr穿過所述縫隙30； iii檢測組5，所述檢測組5包括： -成像傳感器50，在所述成像傳感器50上對穿過所述縫隙30的所述反射光束Lr的投影500進行檢測； -處理和控制組件51，所述處理和控制組件51操作性地連接至所述成像傳感器50，并且所述處理和控制組件51適于對所述投影500的形狀和位置進行分析，以對所述物體900的所述反射表面950的距離和特征進行確定。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人泰克諾森斯股份公司，其通訊地址為：意大利布雷西亞；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。