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龍圖騰網獲悉中國科學院上海技術物理研究所申請的專利一種用于低溫形變測量的3D-DIC測量系統及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120252560B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510744994.6，技術領域涉及：G01B11/16；該發明授權一種用于低溫形變測量的3D-DIC測量系統及方法是由楊寶玉;唐曉;吳亦農;單成棟;李杰;李玉涵設計研發完成，并于2025-06-05向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種用于低溫形變測量的3D-DIC測量系統及方法在說明書摘要公布了：本發明公開一種用于低溫形變測量的3D?DIC測量系統及方法，涉及全場位移測量技術領域，包括真空容器、真空與溫度控制系統、被測對象安裝支架、視窗組件、DIC測量儀器、回轉工作臺、控制與記錄計算機；首先在試驗前操作中，制備被測面散斑圖案，安裝3D?DIC測量系統，完成測量環境的準備；在測量試驗操作中，對DIC測量儀器調節視場和曝光，標定DIC測量儀器，調節試驗工況，分別在不同工況下采集被測面的散斑圖案；在數據處理中，根據散斑圖案計算被測面各點位移，擬合得到剛體位移，最終獲得低溫形變值。本發明具有全場測量、避免真空環境復雜結構標定的優點。

本發明授權一種用于低溫形變測量的3D-DIC測量系統及方法在權利要求書中公布了：1.一種用于低溫形變測量的3D-DIC測量系統，其特征在于，包括真空容器、真空與溫度控制系統、被測對象安裝支架、視窗組件、DIC測量儀器、支撐裝置、控制與記錄計算機，在放置被測對象的真空容器的外部進行測量；真空與溫度控制系統控制真空容器形成真空低溫環境，模擬空間環境，控制被測對象溫度，使被測對象處于不同的工況；DIC測量儀器透過視窗組件觀測被測對象上的被測面，在被測對象處于不同工況時，采集被測面的散斑圖像，記錄在控制與記錄計算機中；控制與記錄計算機處理散斑圖像，根據圖像間相關性，得到被測對象的全場位移，根據多點的位移數據擬合得到被測面的位移，進一步得到低溫形變；所述被測面為不共面的多組平面，包括外殼上和冷光學通道內部的平面；DIC表示數字圖像相關； 所述真空容器在真空與溫度控制系統的控制下提供低溫輻射背景； 所述被測對象設置在被測對象安裝支架上，被測對象安裝支架安裝在真空容器上，用于連接真空容器和被測對象；被測對象安裝支架在被測對象的被測面處設有開口，用于安裝視窗組件； 利用控制與記錄計算機，根據被測面的散斑圖案計算被測面上各點在不同工況相對于初始工況的位移； 通過擬合得到相對于初始工況點的位移對應平面的表達式，所述擬合采用最小二乘法； 根據擬合平面方程以及平面中心點坐標，計算得到不同工況相對于初始工況的被測面的平動角度和偏轉角度； 根據各被測面的平動角度和偏轉角度，計算低溫形變的平動分量和轉動分量。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院上海技術物理研究所，其通訊地址為：200083 上海市虹口區中山北一路420號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。