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龍圖騰網(wǎng)獲悉長江存儲科技有限責(zé)任公司申請的專利溫度調(diào)節(jié)裝置和老化測試系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN114414984B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202111623772.7，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該發(fā)明授權(quán)溫度調(diào)節(jié)裝置和老化測試系統(tǒng)是由欒越;羅文奇;林鴻旸設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2021-12-28向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本溫度調(diào)節(jié)裝置和老化測試系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種溫度調(diào)節(jié)裝置和老化測試系統(tǒng)。其中，溫度調(diào)節(jié)裝置包括溫度調(diào)節(jié)組件，具有第一表面和與所述第一表面相對的第二表面；其中，在進(jìn)行老化試驗(yàn)的低溫試驗(yàn)時(shí)，對所述溫度調(diào)節(jié)組件施加第一方向的電流，以對設(shè)置在所述第一表面上的電子器件進(jìn)行加熱；在進(jìn)行老化試驗(yàn)的高溫試驗(yàn)時(shí)，對所述溫度調(diào)節(jié)組件施加第二方向的電流，以通過所述第一表面對所述電子器件進(jìn)行散熱；所述電子器件用于在老化試驗(yàn)中輔助被測產(chǎn)品進(jìn)行老化測試；隔溫罩，至少包圍所述電子器件，用于減緩所述隔溫罩內(nèi)與所述隔溫罩外的熱量交換。

本發(fā)明授權(quán)溫度調(diào)節(jié)裝置和老化測試系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種溫度調(diào)節(jié)裝置，其特征在于，包括： 溫度調(diào)節(jié)組件，具有第一表面和與所述第一表面相對的第二表面；其中，在進(jìn)行老化試驗(yàn)的低溫試驗(yàn)時(shí)，對所述溫度調(diào)節(jié)組件施加第一方向的電流，以對設(shè)置在所述第一表面上的電子器件進(jìn)行加熱；在進(jìn)行老化試驗(yàn)的高溫試驗(yàn)時(shí)，對所述溫度調(diào)節(jié)組件施加第二方向的電流，以通過所述第一表面對所述電子器件進(jìn)行散熱；所述電子器件用于在老化試驗(yàn)中輔助被測產(chǎn)品進(jìn)行老化測試； 隔溫罩，至少包圍所述電子器件，用于減緩所述隔溫罩內(nèi)與所述隔溫罩外的熱量交換； 所述溫度調(diào)節(jié)組件包括半導(dǎo)體制冷片； 所述隔溫罩存在使所述第二表面暴露的缺口； 所述溫度調(diào)節(jié)裝置還包括：第二金屬導(dǎo)溫片，覆蓋暴露的第二表面，用于將所述第二表面產(chǎn)生的熱量傳遞至所述隔溫罩外。

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