安捷倫科技有限公司D·F·麥卡錫獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監控用IP管家,真方便!
龍圖騰網獲悉安捷倫科技有限公司申請的專利用于通過光學發射光譜法進行元素識別的方法和系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114585889B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:201980101492.4,技術領域涉及:G01J3/443;該發明授權用于通過光學發射光譜法進行元素識別的方法和系統是由D·F·麥卡錫;M·A·伍德設計研發完成,并于2019-12-23向國家知識產權局提交的專利申請。
本用于通過光學發射光譜法進行元素識別的方法和系統在說明書摘要公布了:本發明涉及一種經由光學發射光譜法自動識別樣品中一種或多種元素的存在的計算機實現的方法。所述方法包括以下步驟:從所述樣品中獲得樣品光譜數據;針對元素周期表中通過光學發射光譜法可量化的每個元素獲得一個或多個預定發射波長的列表,每個預定發射波長與一個或多個潛在干擾發射波長的列表相關聯;基于所述發射波長列表確定對應于所述樣品光譜數據中的譜峰的一個或多個分析物波長的列表;基于對應于所述分析物波長的一個或多個潛在干擾發射波長的所述列表,針對每個分析物波長確定所述對應譜峰是否具有受到引起光譜干擾的干擾發射波長影響的可能性;通過從所述分析物波長列表中移除對應于具有受到干擾發射波長影響的可能性的譜峰的分析物波長,確定一個或多個分析物波長的經修訂的列表;以及基于應用于所述經修訂的分析物波長列表的一組判據,確定一種或多種元素存在于所述樣品中的置信水平。
本發明授權用于通過光學發射光譜法進行元素識別的方法和系統在權利要求書中公布了:1.一種經由光學發射光譜法自動識別樣品中一種或多種元素的存在的計算機實現的方法,所述方法包括以下步驟: 從所述樣品中獲得樣品光譜數據, 針對元素周期表中通過光學發射光譜法可量化的每個元素獲得一個或多個預定發射波長的列表,每個預定發射波長與一個或多個潛在干擾發射波長的列表相關聯, 基于所述發射波長列表確定對應于所述樣品光譜數據中的譜峰的一個或多個分析物波長的列表, 基于對應于所述分析物波長的一個或多個潛在干擾發射波長的所述列表,針對每個分析物波長確定所述對應譜峰是否具有受到引起光譜干擾的干擾發射波長影響的可能性, 通過從所述分析物波長列表中移除對應于具有受到干擾發射波長影響的可能性的譜峰的分析物波長來確定一個或多個分析物波長的經修訂的列表,以及 基于應用于所述經修訂的分析物波長列表的一組判據,確定一種或多種元素存在于所述樣品中的置信水平。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人安捷倫科技有限公司,其通訊地址為:美國加利福尼亞州;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息,力求客觀、公正,但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。