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龍圖騰網(wǎng)獲悉浙江老鷹半導(dǎo)體技術(shù)有限公司;杭州開幕光子技術(shù)有限公司申請(qǐng)的專利一種發(fā)光芯片可靠性篩選方法及系統(tǒng)獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN120429587B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-02發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202510926299.1，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F18/20；該發(fā)明授權(quán)一種發(fā)光芯片可靠性篩選方法及系統(tǒng)是由惠武;肖麗文設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-07-07向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種發(fā)光芯片可靠性篩選方法及系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本申請(qǐng)公開了一種發(fā)光芯片可靠性篩選方法及系統(tǒng)，采用溫度循環(huán)和動(dòng)態(tài)電流的復(fù)合應(yīng)力作用方式加速芯片老化，實(shí)時(shí)采集多項(xiàng)光學(xué)和電學(xué)性能參數(shù)變化值作為失效參數(shù)，基于這些參數(shù)計(jì)算失效風(fēng)險(xiǎn)指數(shù)，并與失效風(fēng)險(xiǎn)閾值比對(duì)以判斷芯片是否合格。此外，通過PCA算法分析關(guān)鍵退化特征，構(gòu)建失效敏感參數(shù)集，并利用遷移學(xué)習(xí)框架動(dòng)態(tài)優(yōu)化更新失效風(fēng)險(xiǎn)閾值。本申請(qǐng)大幅縮短了芯片可靠性篩選周期，提高了生產(chǎn)效率；多參數(shù)監(jiān)測(cè)和非線性退化路徑捕捉能夠更快速、準(zhǔn)確地識(shí)別芯片中的可靠性缺陷；同時(shí)，通過PCA算法和遷移學(xué)習(xí)框架的應(yīng)用，進(jìn)一步提升了篩選的準(zhǔn)確性和可靠性，為芯片設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供了有力支持。

本發(fā)明授權(quán)一種發(fā)光芯片可靠性篩選方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種發(fā)光芯片可靠性篩選方法，其特征在于，包括： 采用溫度循環(huán)和動(dòng)態(tài)電流的復(fù)合應(yīng)力作用方式，對(duì)待測(cè)發(fā)光芯片執(zhí)行老化測(cè)試； 在老化測(cè)試中實(shí)時(shí)采集所述待測(cè)發(fā)光芯片的至少兩項(xiàng)光學(xué)性能參數(shù)變化值和或電學(xué)性能參數(shù)變化值，作為失效參數(shù)； 基于所述失效參數(shù)計(jì)算所述待測(cè)發(fā)光芯片的失效風(fēng)險(xiǎn)指數(shù)； 比對(duì)所述失效風(fēng)險(xiǎn)指數(shù)和失效風(fēng)險(xiǎn)閾值，在所述失效風(fēng)險(xiǎn)指數(shù)大于或等于所述失效風(fēng)險(xiǎn)閾值的情況下，判斷所述待測(cè)發(fā)光芯片不合格，在所述失效風(fēng)險(xiǎn)指數(shù)小于所述失效風(fēng)險(xiǎn)閾值的情況下，判斷所述待測(cè)發(fā)光芯片合格。

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