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龍圖騰網(wǎng)獲悉華南理工大學(xué)申請(qǐng)的專利一種用于TEM的納米顆粒樣品尋回方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN116203048B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-08發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202310198680.1，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N23/02；該發(fā)明授權(quán)一種用于TEM的納米顆粒樣品尋回方法是由劉金超;梁振興設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2023-03-01向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種用于TEM的納米顆粒樣品尋回方法在說(shuō)明書摘要公布了：本發(fā)明涉及一種用于TEM的納米顆粒樣品尋回方法，利用微米級(jí)標(biāo)記物定位的納米級(jí)目標(biāo)樣品的尋回方法。本發(fā)明方法通用于各種品牌、型號(hào)的TEM儀器以及坐標(biāo)支持膜載網(wǎng)，無(wú)需設(shè)計(jì)特殊圖案，僅需測(cè)試前在已經(jīng)裝有目標(biāo)樣品的載網(wǎng)上添加惰性的標(biāo)記物即可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)目標(biāo)的定位與尋回。對(duì)于各種品牌、型號(hào)的坐標(biāo)載網(wǎng)和TEM設(shè)備具有通用性；尋回目標(biāo)位置基于坐標(biāo)載網(wǎng)與微米級(jí)標(biāo)記物，尋回精度高，效率高，成本低，操作簡(jiǎn)單，實(shí)用性強(qiáng)，選用的坐標(biāo)載網(wǎng)的目數(shù)與市面上大多數(shù)商用透射電鏡最大的視野范圍相匹配，即坐標(biāo)載網(wǎng)的周期網(wǎng)格小于TEM最大視野，在TEM視野中至少能顯示一個(gè)完整周期，因此目標(biāo)所在的大網(wǎng)格可以被準(zhǔn)確鎖定。

本發(fā)明授權(quán)一種用于TEM的納米顆粒樣品尋回方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種用于TEM的納米顆粒樣品尋回方法，其特征在于，包括以下步驟： 步驟一：加入惰性標(biāo)記物 將納米顆粒目標(biāo)樣品滴加在載網(wǎng)上，將惰性標(biāo)記物分散在分散劑中，滴加在載網(wǎng)上，將載網(wǎng)放置在烘箱或真空烘箱中，揮發(fā)掉分散劑； 步驟二：首次觀察 將載有惰性標(biāo)記物與目標(biāo)樣品的載網(wǎng)裝在透射電鏡樣品桿上后，裝載入透射電鏡，待真空抽好后，進(jìn)行觀察； 步驟三：定位 找到目標(biāo)樣品，在透射電鏡lowmag模式下，確認(rèn)目標(biāo)樣品所在載網(wǎng)的坐標(biāo)網(wǎng)格，并拍照記錄，記為圖片A； 將惰性標(biāo)記物與目標(biāo)樣品上需要標(biāo)記的位置置于同一視野中，測(cè)量目標(biāo)位置的特征點(diǎn)到惰性標(biāo)記物的距離，標(biāo)記在圖片中，并記錄為圖片C； 在透射電鏡lowmag模式下，記錄惰性標(biāo)記物與坐標(biāo)載網(wǎng)的網(wǎng)格線之間的距離，將坐標(biāo)網(wǎng)格的至少一條邊與惰性標(biāo)記物置于同一視野中，測(cè)量惰性標(biāo)記物的兩個(gè)端點(diǎn)到距離其最近的坐標(biāo)網(wǎng)格線的距離，并在圖片中標(biāo)出，并記錄為圖片B； 步驟四：尋回 將上述載網(wǎng)裝入TEM樣品桿中，先在lowmag模式下找到目標(biāo)樣品所在的坐標(biāo)網(wǎng)格，調(diào)節(jié)Zfocus，使載網(wǎng)在wobble模式下穩(wěn)定不晃動(dòng)； 將步驟三中所拍攝的圖片A旋轉(zhuǎn)α角度，使其與當(dāng)下視野中的坐標(biāo)網(wǎng)格方向重合，將步驟三所圖片B進(jìn)行與圖片A同步的旋轉(zhuǎn)α角度，根據(jù)步驟三圖片B中所測(cè)量的惰性標(biāo)記物與坐標(biāo)載網(wǎng)的網(wǎng)格線之間的位置關(guān)系找到惰性標(biāo)記物； 將步驟三中記錄的惰性標(biāo)記物與目標(biāo)樣品之間的位置關(guān)系的圖片C與圖片A同步的旋轉(zhuǎn)α角度，并根據(jù)步驟三圖片B中惰性標(biāo)記物與目標(biāo)樣品之間的位置關(guān)系及距離尋回目標(biāo)樣品； 所述惰性標(biāo)記物為長(zhǎng)度為微米級(jí)、寬度或直徑為納米級(jí)的棒狀物； 所述惰性標(biāo)記物為BaTi2O4、ZnO、TiO2、Au、Pt或Pd材料制成的微納米棒； 所述載網(wǎng)為坐標(biāo)支持膜載網(wǎng)，載網(wǎng)目數(shù)為200-250目。

如需購(gòu)買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)＠麢?quán)人華南理工大學(xué)，其通訊地址為：510630 廣東省廣州市天河區(qū)五山路；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。