北京邁格威科技有限公司周鴻宇獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京邁格威科技有限公司申請的專利目標檢測方法、電子設備及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115641581B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211214510.X，技術領域涉及：G06V20/70；該發明授權目標檢測方法、電子設備及存儲介質是由周鴻宇;葛政設計研發完成，并于2022-09-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本目標檢測方法、電子設備及存儲介質在說明書摘要公布了：本申請實施例公開一種目標檢測方法、電子設備及存儲介質，該方法包括：提取圖像組中圖像的語義特征，得到二維語義特征圖，其中，所述圖像組中包括多個攝像頭采集到的二維圖像；對所述二維語義特征圖進行深度信息估計，得到二維深度特征圖；在特征圖的高度維度上，對所述二維語義特征圖進行特征壓縮，得到一維語義特征圖，以及對所述二維深度特征圖進行特征壓縮，得到一維深度特征圖；基于所述一維語義特征圖和所述一維深度特征圖，生成二維鳥瞰視角特征圖；基于所述二維鳥瞰視角特征圖，進行目標檢測。
本發明授權目標檢測方法、電子設備及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種目標檢測方法，其特征在于，所述方法包括： 提取圖像組中圖像的語義特征，得到二維語義特征圖，其中，所述圖像組中包括多個攝像頭采集到的二維圖像； 對所述二維語義特征圖進行深度信息估計，得到二維深度特征圖； 在特征圖的高度維度上，對所述二維語義特征圖進行特征壓縮，得到一維語義特征圖，以及對所述二維深度特征圖進行特征壓縮，得到一維深度特征圖； 基于所述一維語義特征圖和所述一維深度特征圖，生成二維鳥瞰視角特征圖； 基于所述二維鳥瞰視角特征圖，進行目標檢測； 其中，所述對所述二維深度特征圖進行特征壓縮，得到一維深度特征圖，包括： 預測所述二維語義特征圖中每個點所對應深度信息的權重； 將所述二維深度特征圖中每個點的深度信息與對應位置的權重進行點乘運算，并在高度維度上求和，得到一維深度特征圖。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京邁格威科技有限公司，其通訊地址為：100086 北京市海淀區科學院南路2號3層317；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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