武漢優光科技有限責任公司陳松獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉武漢優光科技有限責任公司申請的專利一種測試波片相位延遲的方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115493814B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210982389.9，技術領域涉及：G01M11/02；該發明授權一種測試波片相位延遲的方法及裝置是由陳松;賀鵬;肖志全;孟聰祿設計研發完成，并于2022-08-16向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種測試波片相位延遲的方法及裝置在說明書摘要公布了：本發明公開一種測試波片相位延遲的方法及裝置，方法包括：步驟1，沿光路依次設置光源、起偏器、待測波片、檢偏器和光功率計，且待測波片光軸與X軸成45°角，檢偏器透光軸與X軸平行；步驟2，打開光源，記錄第一光功率P1；步驟3，將檢偏器轉動90°，記錄第二光功率P2；步驟4，根據待測波片的瓊斯矩陣，計算待測波片的相位延遲。本發明在測試過程中，僅需轉動一次檢偏器，對起偏器、待測波片均無需操作，避免了多個器件多次操作可能導致的操作誤差積累，進而導致測試結果誤差較大的問題，保證了測試精度，同時由于測試流程的簡化，極大提高了測試效率。
本發明授權一種測試波片相位延遲的方法及裝置在權利要求書中公布了：1.一種測試波片相位延遲的方法，其特征在于，包括： 步驟1，沿光路依次設置光源、起偏器、待測波片、檢偏器和光功率計，且待測波片光軸與X軸成45°角，檢偏器透光軸與X軸平行； 步驟2，打開光源，記錄第一光功率P1； 步驟3，將檢偏器轉動90°，記錄第二光功率P2； 步驟4，根據待測波片的瓊斯矩陣，計算待測波片的相位延遲，具體包括：設水平偏振光振幅為，待測波片光軸與X軸成角，經波片后透射光復振幅的瓊斯矢量為，利用待測波片的瓊斯矩陣做如下運算：，；帶入45°夾角，計算得：，；波片透射光復振幅在X、Y軸上的分量之比為，光強之比為復振幅比值的平方，光功率之比等于光強度之比，即，待測波片的相位延遲。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人武漢優光科技有限責任公司，其通訊地址為：430000 湖北省武漢市東湖新技術開發區高新二路388號武漢光谷國際生物醫藥企業加速器1.2期19幢1-5層；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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