成都愛旗科技有限公司請求不公布姓名獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉成都愛旗科技有限公司申請的專利一種芯片的IO端口及電源端口增強防護(hù)電路獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN115296283B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-08發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202210868716.8,技術(shù)領(lǐng)域涉及:H02H9/04;該發(fā)明授權(quán)一種芯片的IO端口及電源端口增強防護(hù)電路是由請求不公布姓名設(shè)計研發(fā)完成,并于2022-07-22向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種芯片的IO端口及電源端口增強防護(hù)電路在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開一種芯片的IO端口及電源端口增強防護(hù)電路,涉及芯片防護(hù)技術(shù)領(lǐng)域,以解決現(xiàn)有芯片防護(hù)電路不能同時對IO端口及電源端口受到的ESD沖擊或us級沖擊進(jìn)行防護(hù)的問題。所述增強防護(hù)電路包括:泄放支路,設(shè)置在IO端口與地之間以及電源端口與地之間,用于在IO端口或電源端口受到?jīng)_擊時泄放電流;控制支路,包括一級控制支路和二級控制支路,二級控制支路用于控制一級控制支路是否導(dǎo)通,一級控制支路用于控制泄放支路是否導(dǎo)通;檢測支路,用于在檢測到IO端口及電源端口受到ESD沖擊或us級沖擊時,觸發(fā)控制支路,控制支路控制泄放支路泄放電流。本發(fā)明提供的增強防護(hù)電路用于泄放來自芯片IO端口及電源端口的能量沖擊,對芯片內(nèi)部電路進(jìn)行保護(hù)。
本發(fā)明授權(quán)一種芯片的IO端口及電源端口增強防護(hù)電路在權(quán)利要求書中公布了:1.一種芯片的IO端口及電源端口增強防護(hù)電路,其特征在于,包括: 泄放支路,設(shè)置在IO端口與地之間以及電源端口與地之間,用于在所述IO端口或所述電源端口受到?jīng)_擊時泄放電流;所述沖擊包括ESD沖擊或us級沖擊; 控制支路,包括一級控制支路和二級控制支路,所述二級控制支路用于控制所述一級控制支路是否導(dǎo)通,所述一級控制支路用于控制所述泄放支路是否導(dǎo)通; 檢測支路,包括第一檢測支路和第二檢測支路,所述第一檢測支路用于在檢測到所述IO端口或所述電源端口受到ESD沖擊時,觸發(fā)所述一級控制支路,所述一級控制支路控制所述泄放支路對所述ESD沖擊泄放電流;所述第二檢測支路用于在檢測到所述IO端口或所述電源端口受到us級沖擊時,觸發(fā)所述二級控制支路,所述二級控制支路控制所述一級控制支路導(dǎo)通,所述一級控制支路控制所述泄放支路對所述us級沖擊泄放電流; 所述泄放支路包括第一功率管、第二功率管以及第三功率管,所述第一功率管為NMOS管,所述第二功率管和所述第三功率管為二極管;所述第一功率管的漏極與所述電源端口相連,所述第二功率管的正極與所述第三功率管的負(fù)極相連,所述第一功率管設(shè)置在所述電源端口與地之間,所述第二功率管設(shè)置在所述電源端口與所述IO端口之間,所述第三功率管設(shè)置在所述IO端口與地之間;所述一級控制支路包括第一場效應(yīng)管和第二場效應(yīng)管,所述第一場效應(yīng)管是PMOS管,所述第二場效應(yīng)管是NMOS管,所述第一場效應(yīng)管與所述第二場效應(yīng)管串聯(lián);所述二級控制支路包括限流電阻、分壓電阻以及三極管,所述三極管的集電極與所述一級控制支路相連,所述限流電組串聯(lián)連接所述三極管的基電極,所述分壓電阻與所述三極管并聯(lián),所述分壓電阻與所述限流電阻并聯(lián);所述第一檢測支路包括電阻和電容,所述電阻與所述電容串聯(lián),所述電阻與所述電容串聯(lián)連接處連接所述三極管的集電極,所述電阻與所述第一場效應(yīng)管并聯(lián),所述電阻連接所述電源端口,所述電容接地;所述電阻用于為所述第一場效應(yīng)管提供分壓電壓使所述第一場效應(yīng)管導(dǎo)通;所述第二檢測支路包括IO檢測支路和電源檢測支路,所述IO檢測支路連接所述IO端口和所述二級控制支路,所述IO檢測支路包括第一齊納二極管和第一二極管,所述第一齊納二極管的負(fù)極連接所述IO端口,所述第一齊納二極管的正極連接所述第一二極管的正極,當(dāng)所述IO端口受到us級沖擊時,所述第一齊納二極管反向擊穿導(dǎo)通,觸發(fā)所述二級控制支路導(dǎo)通,所述第一齊納二極管的閾值電壓大于芯片工作電壓的峰值;所述電源檢測支路包括第二齊納二極管和第二二極管,所述第二齊納二極管的負(fù)極連接所述電源端口,所述第二齊納二極管的正極連接所述第二二極管的正極。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人成都愛旗科技有限公司,其通訊地址為:610094 四川省成都市中國(四川)自由貿(mào)易試驗區(qū)成都高新區(qū)天華二路219號C12棟17層;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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