中國電力科學研究院有限公司;國網浙江省電力有限公司;國家電網有限公司;平高集團有限公司趙霞獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國電力科學研究院有限公司;國網浙江省電力有限公司;國家電網有限公司;平高集團有限公司申請的專利一種用于分析壓敏陶瓷缺陷分布的方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114878644B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111237735.2，技術領域涉及：G01N27/22；該發明授權一種用于分析壓敏陶瓷缺陷分布的方法及系統是由趙霞;郭璊;張搏宇;呂雪斌;郝留成;李凱;陳蕊;陳曉剛設計研發完成，并于2021-10-22向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種用于分析壓敏陶瓷缺陷分布的方法及系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種用于分析壓敏陶瓷缺陷分布的方法及系統，屬于壓敏陶瓷技術領域。本發明方法，包括：將不同摻雜量或制作工藝的壓敏陶瓷冷卻至第一設定溫度，測量所述壓敏陶瓷在設定頻率范圍內的第一介電響應；加熱所述壓敏陶瓷至第二設定溫度，測量所述壓敏陶瓷在設定頻率范圍內的第二介電響應；根據第一介電響應繪制所述壓敏陶瓷在第一設定溫度的第一頻譜圖，根據第二介電響應繪制所述壓敏陶瓷在第二設定溫度的第二頻譜圖；提取第一頻譜圖及第二頻譜圖中損耗峰兩側曲線的斜率，根據斜率，確定壓敏陶瓷的缺陷分布。本發明實現了對壓敏陶瓷的缺陷分布的表征，為壓敏陶瓷老化檢測提供了新思路。
本發明授權一種用于分析壓敏陶瓷缺陷分布的方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種用于分析壓敏陶瓷缺陷分布的方法，所述方法包括： 將不同摻雜量或制作工藝的壓敏陶瓷冷卻至第一設定溫度，測量所述壓敏陶瓷在設定頻率范圍內的第一介電響應； 加熱所述壓敏陶瓷至第二設定溫度，測量所述壓敏陶瓷在設定頻率范圍內的第二介電響應； 根據第一介電響應繪制所述壓敏陶瓷在第一設定溫度的第一頻譜圖，根據第二介電響應繪制所述壓敏陶瓷在第二設定溫度的第二頻譜圖； 提取第一頻譜圖及第二頻譜圖中損耗峰兩側曲線的斜率，根據斜率，確定壓敏陶瓷的缺陷分布； 所述根據斜率，確定壓敏陶瓷的缺陷分布，具體為： 根據斜率，確定損耗峰左側上升段的斜率，確定缺陷弛豫長程運動，損耗峰右側下降段的斜率，確定缺陷弛豫短程運動，根據缺陷弛豫長程運動及缺陷弛豫短程運動，確定壓敏陶瓷的缺陷分布。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國電力科學研究院有限公司;國網浙江省電力有限公司;國家電網有限公司;平高集團有限公司，其通訊地址為：100192 北京市海淀區清河小營東路15號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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