華為技術有限公司馮義獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉華為技術有限公司申請的專利測量鏈路狀態的方法、裝置、系統及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115243122B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110444046.2，技術領域涉及：H04Q11/00；該發明授權測量鏈路狀態的方法、裝置、系統及存儲介質是由馮義;李玲;鄭剛設計研發完成，并于2021-04-23向國家知識產權局提交的專利申請。
本測量鏈路狀態的方法、裝置、系統及存儲介質在說明書摘要公布了：本申請公開了一種測量鏈路狀態的方法、裝置、系統及存儲介質，屬于通信領域。所述方法包括：第一OLT通過第一端口向第一ONU發送第一指示信息，第一ONU是PON包括的至少一個ONU中的一個，第一指示信息用于指示對第一ONU進行測量的測量窗口。第一OLT獲取第一ONU對應的信號質量，該信號質量是第二OLT上的第二端口在測量窗口內從第一PON通道上接收的信號質量，第一PON通道是承載在第二端口與第一ONU之間鏈路上的通道。第一OLT基于PON中的每個ONU對應的信號質量確定主干鏈路的狀態，主干鏈路是第二端口到每個ONU的鏈路的共同部分。本申請能夠提高測量主干鏈路狀態的精度。
本發明授權測量鏈路狀態的方法、裝置、系統及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種測量鏈路狀態的方法，其特征在于，所述方法包括： 第一光線路終端OLT通過第一端口向第一光網絡單元ONU發送第一指示信息，所述第一OLT是無源光網絡PON中的設備，所述第一ONU是所述PON包括的至少一個ONU中的一個，所述第一指示信息用于指示對所述第一ONU進行測量的測量窗口； 所述第一OLT獲取所述第一ONU對應的信號質量，所述信號質量是第二端口在所述測量窗口內從第一PON通道上接收的信號質量，所述第二端口接收的信號包括所述第一ONU在所述測量窗口內發送的測量信號，所述第一PON通道用于傳輸所述測量信號，第二PON通道用于傳輸業務信號，所述測量信號對應的光波長與所述業務信號對應的光波長不同，所述第一PON通道和所述第二PON通道是承載在所述第二端口與所述第一ONU之間鏈路上的通道； 所述第一OLT基于所述PON中的每個ONU對應的信號質量確定主干鏈路的狀態，所述主干鏈路是所述第二端口到所述每個ONU的鏈路的共同部分。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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