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龍圖騰網獲悉井芯微電子技術(天津)有限公司申請的專利一種RapidIO交換芯片延時性能測量的方法與裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114859208B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210059337.4，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權一種RapidIO交換芯片延時性能測量的方法與裝置是由朱珂;王盼;王永勝;林謙;顧艷伍;趙金萍;儲志博;張瑞卿設計研發完成，并于2022-01-19向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種RapidIO交換芯片延時性能測量的方法與裝置在說明書摘要公布了：本發明提供了一種RapidIO交換芯片延時性能測量的方法與裝置，以RapidIO交換芯片RTL代碼作為待測對象DUT；DUT包括數字電路代碼和模擬電路代碼，所述模擬電路代碼包括Serdes模型，用于生成RapidIO協議數據報文作為測試激勵，并反應物理模擬電路的實際時序行為；所述數字電路代碼在模擬電路代碼相應的時鐘節拍驅動下在DUT中傳輸；記錄數字電路代碼在交換芯片輸入口S0_I第一拍數據報文上升沿對應的時間值T1和S1_I第一拍數據的上升沿對應的時間值T2，T2和T1的時間差為RapidIO交換芯片的整個傳輸通路的延時時間。本發明所述的RapidIO交換芯片延時性能測量的方法與裝置的待測對象由RTL設計代碼替代，解決了現有測試儀無法支持RapidIO交換芯片6.25Gbps以上頻點延時測試的問題。

本發明授權一種RapidIO交換芯片延時性能測量的方法與裝置在權利要求書中公布了：1.一種RapidIO交換芯片延時性能測量的方法，其特征在于：以RapidIO交換芯片RTL代碼作為待測對象DUT； DUT包括數字電路代碼和模擬電路代碼，所述模擬電路代碼包括Serdes模型，用于生成RapidIO協議數據報文作為測試激勵，并反應物理模擬電路的實際時序行為；所述數字電路代碼在模擬電路代碼相應的時鐘節拍驅動下在DUT中傳輸； 記錄數字電路代碼在交換芯片輸入口S0_I第一拍數據報文上升沿對應的時間值T1和S1_I第一拍數據的上升沿對應的時間值T2，T2和T1的時間差為RapidIO交換芯片的整個傳輸通路的延時時間； DUT包括兩個端口，分別為port0端口和port1端口，port0端口通過Serdes高速通道線連接Serdes模型，port0端口的輸出端連接交換芯片輸入口S0_I，輸入端連接交換芯片輸出口S0_O的輸出端，交換芯片輸入口S0_I的輸出端連接交換芯片輸出口S1_O的輸入端，交換芯片輸出口S1_O的輸出端連接port1端口的輸入端，交換芯片輸出口S0_O的輸入端連接交換芯片輸入口S1_I的輸出端，交換芯片輸入口S1_I的輸入端連接port1端口輸出端。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人井芯微電子技術(天津)有限公司，其通訊地址為：300000 天津市濱海新區經濟技術開發區濱海-中關村科技園泉州道3號北塘建設發展大廈B座215室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。