中國科學院上海技術物理研究所何志平獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院上海技術物理研究所申請的專利利用明暗均勻區域進行成像光譜儀圖像非均勻性校正方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116109491B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202111324633.4,技術領域涉及:G06T5/80;該發明授權利用明暗均勻區域進行成像光譜儀圖像非均勻性校正方法是由何志平;吳兵;劉成玉;徐睿設計研發完成,并于2021-11-10向國家知識產權局提交的專利申請。
本利用明暗均勻區域進行成像光譜儀圖像非均勻性校正方法在說明書摘要公布了:本發明提出了一種利用明暗均勻區域進行成像光譜儀圖像非均勻性校正方法。方法包括:在實驗室獲得校正系數進行初步探測器像元校正;利用系數校正后的不受條帶噪聲影響的譜段選擇均勻的明、暗區域;利用改進的迭代法進行閾值約束去除明暗均勻區域的異常信號求得穩定的參考值;利用參考值計算空間維所有像元的增益與偏置,最終實現全圖全譜段非均勻性的校正。該方法只需輸入一副符合要求的非均勻性圖像,即可快速得到較好的校正結果,計算復雜度低,校正速度快。
本發明授權利用明暗均勻區域進行成像光譜儀圖像非均勻性校正方法在權利要求書中公布了:1.一種利用明暗均勻區域進行成像光譜儀圖像非均勻性校正方法,其特征在于包括以下步驟: 步驟一,基于實驗室非均勻性校正系數的初校正; 步驟二,初步明暗均勻區域的選擇; 步驟三,對圖像全譜段進行迭代得到均勻區域參考值; 步驟四,利用參考值計算得到非均勻性校正系數; 步驟三所述的對圖像全譜段進行迭代得到均勻區域參考值,其步驟如下:設置一個初始閾值T0,把背景區域圖像的所有像素點分成兩類,一類的像素值均小于等于T0,另一類的前景區域像素值均大于T0,分別計算背景區域與前景區域的像素平均值m0、m1,為求得的閾值更接近高頻區域的像素值,令T1i=m0+m1-m0*0.9=m0*0.1+m1*0.9 再計算背景區域與前景區域的像素平均值n0、n1,目的是求得的閾值更接近陰影等更低頻區域的像素值,令 T2i=n0+n1-n0*0.1=n0*0.9+n1*0.1 兩次結束迭代條件相同,即使迭代得到的閾值與上一輪迭代的閾值小于10-4;則在閾值T1與T2之間的像元為獲得對應的真實背景,即理想均勻區域值; 步驟四所述的利用參考值計算得到非均勻性校正系數,步驟如下所示:對得到明暗兩處的均勻區域求其均值: 在明亮區域時: YH=GijkRijkEH+Oijk 在暗區域時: YL=GijkRijkEL+Oijk 則由公式得: 其中,式中RijkEH和RijkEL分別為像元i,j,k在明暗均勻區域輻射背景下的響應;YH和YL分別為明暗均勻區域輻射背景下的均值;Gi,j,k和Oi,j,k為像元i,j,k的增益和偏置,即為校正系數; 最后,根據公式獲得均勻性校正的圖像: D′i,j,k=Gi,j,k*Di,j,k+Oi,j,k D′i,j,k為校正后像元值;Di,j,k為原始像元值。
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