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龍圖騰網獲悉深圳精智達技術股份有限公司申請的專利一種基于相位偏折術的缺陷檢測方法、裝置及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120031882B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510512963.8，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權一種基于相位偏折術的缺陷檢測方法、裝置及存儲介質是由張景程;楊碩;張濱;劉祥超設計研發完成，并于2025-04-23向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于相位偏折術的缺陷檢測方法、裝置及存儲介質在說明書摘要公布了：本申請公開了一種基于相位偏折術的缺陷檢測方法、裝置及存儲介質，用于提高對不同顯著性缺陷的檢測能力。獲取待測顯示屏的反射條紋圖像；對所述反射條紋圖像進行相位提取和相位解包裹處理，生成相位分布數據；提取所述相位分布數據的梯度數據；根據所述梯度數據和顯著性閾值對所述反射條紋圖像的缺陷區域進行多層級顯著性識別，生成多層級顯著性識別結果，所述多層級顯著性識別結果包括高顯著性檢測結果、中顯著性檢測結果、低顯著性檢測結果，不同層級的顯著性識別結果對應不同的類型的缺陷；將多層級顯著性識別結果進行分級分類處理；將分級分類處理后的最終檢測結果輸出。

本發明授權一種基于相位偏折術的缺陷檢測方法、裝置及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種基于相位偏折術的缺陷檢測方法，其特征在于，包括： 獲取待測顯示屏的反射條紋圖像； 對所述反射條紋圖像進行相位提取和相位解包裹處理，生成相位分布數據； 提取所述相位分布數據的梯度數據； 根據所述梯度數據和預設的顯著性閾值對所述反射條紋圖像的缺陷區域進行多層級顯著性識別，生成多層級顯著性識別結果，所述多層級顯著性識別結果包括高顯著性檢測結果、中顯著性檢測結果、低顯著性檢測結果，不同層級的顯著性識別結果對應不同的類型的缺陷； 將多層級顯著性識別結果進行分級分類處理； 將分級分類處理后的最終檢測結果輸出； 在根據梯度數據和預設的顯著性閾值對反射條紋圖像的缺陷區域進行多層級顯著性識別，生成多層級顯著性識別結果的步驟之后，將多層級顯著性識別結果進行分級分類處理的步驟之前，缺陷檢測方法還包括以下內容： 獲取低顯著性區域的增強系數； 根據所述增強系數對所述低顯著性檢測結果對應的區域進行自適應增強處理，公式如下： k為增強系數，用于調整低顯著性區域的放大強度，為增強后的相位分布，為原相位分布，為預設的相位分布變化量； 其中，獲取低顯著性區域的增強系數的步驟包括：根據所述中顯著性檢測結果和所述低顯著性檢測結果生成低顯著性區域的增強系數； 增強系數k根據預設的閾值和進行生成，公式如下： 。

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