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龍圖騰網獲悉西北核技術研究所申請的專利基于變劑量率輻照的雙極器件抗總劑量性能保守估計方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115629244B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211046618.2，技術領域涉及：G01R31/00；該發明授權基于變劑量率輻照的雙極器件抗總劑量性能保守估計方法是由姚志斌;陳偉;緱石龍;何寶平;馬武英;盛江坤設計研發完成，并于2022-08-30向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于變劑量率輻照的雙極器件抗總劑量性能保守估計方法在說明書摘要公布了：本發明為解決有變劑量率輻照方法需要大量試驗樣品、試驗成本高的問題，而提供了一種基于變劑量率輻照的雙極器件抗總劑量性能保守估計方法。本發明具體為：首先，利用高劑量率加速雙極器件的輻射損傷；其次，利用低劑量率輻照獲取雙極器件在低劑量率下的參數退化率；最后，假設試驗樣品在低劑量率下，其敏感參數的退化率沒有明顯變化，通過對低劑量率下的損傷曲線的線性外推，從而得到對試驗樣品總劑量效應失效閾值的估計，為具有低劑量率增強效應的雙極器件抗總劑量性能評價提供了一種簡單有效、操作性強的地面模擬試驗方法。

本發明授權基于變劑量率輻照的雙極器件抗總劑量性能保守估計方法在權利要求書中公布了：1.一種基于變劑量率輻照的雙極器件抗總劑量性能保守估計方法，其特征在于，包括以下步驟： 步驟一、選取待測器件的試驗樣品，測量試驗樣品初始的性能參數和輻照參數，并確定輻照試驗樣品的高劑量率、低劑量率、高劑量率值下的輻照總劑量以及低劑量率值下的輻照總劑量； 所述輻照參數包括源種類、輻射劑量場均勻性、試驗樣品性能測量時間； 步驟二、根據設定的高劑量率值和輻照總劑量對試驗樣品進行高劑量率輻照，測量輻照后試驗樣品的性能參數，計算每個性能參數的高劑量率可靠度，確定高劑量率下試驗樣品的輻照最敏感參數并判斷其可靠度是否滿足要求，若是，則進入下一步，否則，重復步驟二； 步驟三、對高劑量率輻照后的試驗樣品進行室溫退火； 步驟四、根據設定的低劑量率值和輻照總劑量對試驗樣品進行低劑量率輻照，測量輻照后試驗樣品的性能參數，計算每個性能參數的低劑量率可靠度，確定低劑量率下試驗樣品的輻照最敏感參數并判斷其可靠度是否滿足要求，若是，則進入下一步，否則，重復步驟四； 步驟五、插值計算試驗樣品失效時所承受的總劑量TID0和試驗樣品在低劑量率下的損傷擬合曲線外推得到的初始參數值所對應的總劑量值TIDfit，進而得到試驗樣品總劑量失效閾值估計TIDth＝TID0-TIDfit。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人西北核技術研究所，其通訊地址為：710024 陜西省西安市灞橋區平峪路28號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。