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龍圖騰網(wǎng)獲悉波音公司申請的專利用于非破壞性檢查粘合線和孔隙率的X射線散射方法和系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產(chǎn)權局授予，授權公告號為：CN112098445B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權局官網(wǎng)在2025-08-15發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202010433059.5，技術領域涉及：G01N23/201；該發(fā)明授權用于非破壞性檢查粘合線和孔隙率的X射線散射方法和系統(tǒng)是由M·薩法伊設計研發(fā)完成，并于2020-05-21向國家知識產(chǎn)權局提交的專利申請。

本用于非破壞性檢查粘合線和孔隙率的X射線散射方法和系統(tǒng)在說明書摘要公布了：公開了用于非破壞性檢查粘合線的非破壞性檢查方法、系統(tǒng)和裝置，所述粘合線包括存在于復合基材中和復合基材中的粘合劑材料層中的粘合線，所述方法、系統(tǒng)和裝置包括小角度X射線散射陣列。

本發(fā)明授權用于非破壞性檢查粘合線和孔隙率的X射線散射方法和系統(tǒng)在權利要求書中公布了：1.一種用于非破壞性檢查載具50的承載載荷的結構的復合基材12的粘合劑材料層中的粘合線以便檢查粘合劑材料內的異常的方法600，所述方法包括： 將小角度X射線散射系統(tǒng)10定位在復合基材12附近，所述復合基材包括插在復合基材第一側面11和復合基材第二側面13之間的粘合劑材料層，所述粘合劑材料層還包括粘合線區(qū)域14a，其中所述小角度X射線散射系統(tǒng)包括位于所述復合基材第一側面上的小角度X射線散射系統(tǒng)第一側面組件，所述小角度X射線散射系統(tǒng)第一側面組件包括： X射線源18； 第一針孔20和第二針孔22，其與X射線源18相距預定距離； 定位在所述針孔和所述復合基材第一側面附近的第一真空室24；并且 其中所述小角度X射線散射系統(tǒng)包括位于所述復合基材第二側面上的小角度X射線散射系統(tǒng)第二側面組件，所述復合基材小角度X射線散射系統(tǒng)第二側面組件包括： 定位在所述復合材料第二側面附近的第二真空室26，所述第二真空室與X射線閃爍器28聯(lián)通； 與所述X射線閃爍器聯(lián)通的電荷耦合器件30，所述X射線閃爍器包括閃爍層28a； 激活所述小角度X射線散射系統(tǒng)以從所述X射線源發(fā)射X射線束； 檢測在所述閃爍層上的散射X射線； 基于所述散射X射線撞擊所述閃爍層生成成像信號； 將在所述閃爍層上生成的散射X射線的成像信號發(fā)送到成像軟件； 生成粘合線圖像46；和 在顯示器44上顯示所述粘合線圖像。

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