IPG光子公司喬丹·A·坎科獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉IPG光子公司申請的專利校準系統和用于校準相干成像測量系統的方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115397603B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202180029108.1,技術領域涉及:B23K26/03;該發明授權校準系統和用于校準相干成像測量系統的方法是由喬丹·A·坎科;陳慧琪;莫門·Y·莫門;保羅·J·L·韋伯斯特設計研發完成,并于2021-04-16向國家知識產權局提交的專利申請。
本校準系統和用于校準相干成像測量系統的方法在說明書摘要公布了:用于靜態和動態校準的系統和方法可以被用于提供來自相干成像CI測量系統的測量束相對于來自材料加工系統的加工束的對準。在這些系統和方法中,可以從所述CI測量系統和或從輔助傳感器獲得校準測量輸出。由所述CI測量系統執行的未來測量可以至少部分地基于所述校準測量輸出來修改。
本發明授權校準系統和用于校準相干成像測量系統的方法在權利要求書中公布了:1.一種校準系統,包括: 材料加工系統,所述材料加工系統包括用于生成加工束的加工束源和用于將所述加工束傳送到目標的加工束頭; 相干成像測量系統,所述相干成像測量系統包括用于生成測量束并且用于產生干涉測量輸出的相干成像核心單元以及用于將所述測量束傳送到所述目標的相干成像掃描模塊,其中,所述相干成像測量系統使用所述干涉測量輸出產生相干成像測量輸出并且還使用由所述相干成像測量系統中的檢測提供的對比機制產生校準測量輸出;和 至少一個控制器,所述至少一個控制器被配置成從所述相干成像核心單元接收所述相干成像測量輸出,以用于監測和或控制所述材料加工系統,其中,所述控制器還被配置成從所述相干成像測量系統接收所述校準測量輸出,并且被配置成至少部分地基于從所述相干成像測量系統接收的所述校準測量輸出而控制所述相干成像測量系統,其中,所述控制器被配置成基于從所述相干成像測量系統接收的所述校準測量輸出控制所述相干成像測量系統,以修改由所述相干成像測量系統進行的未來測量,以用于所述相干成像測量系統和所述加工束的對準。
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