華中農業大學王巧華獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉華中農業大學申請的專利蛋殼表面性狀無損檢測裝置及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120275338B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510783370.5,技術領域涉及:G01N21/55;該發明授權蛋殼表面性狀無損檢測裝置及方法是由王巧華;楊烝;顧夢圓;吳佳權設計研發完成,并于2025-06-12向國家知識產權局提交的專利申請。
本蛋殼表面性狀無損檢測裝置及方法在說明書摘要公布了:本發明提供一種蛋殼表面性狀無損檢測裝置及方法,屬于農產品檢測領域,該裝置包括處理模塊和檢測裝置本體,所述檢測裝置本體包括檢測暗箱、轉動云臺、透射平臺、圖像采集儀和環形反射光源,透射平臺頂部設有放置檢測蛋品的開孔,內部設有通過開孔向檢測蛋品發射光束的透射光源,并在轉動云臺的帶動下進行一周四次的均步旋轉;所述處理模塊通過圖像采集儀獲取透射光源開啟下采集的四個旋轉角度的透射圖像和反射圖像,并根據透射圖像確定蛋殼透射類型檢測的檢測結果,以及根據反射圖像確定反射類型檢測的檢測結果。該裝置可以在不花費額外的空間成本和時間成本情況下,提高檢測的準確性,并且同時實現透射檢測和反射檢測。
本發明授權蛋殼表面性狀無損檢測裝置及方法在權利要求書中公布了:1.一種蛋殼表面性狀無損檢測裝置,其特征在于,包括: 處理模塊和檢測裝置本體; 所述檢測裝置本體,包括檢測暗箱、設置在所述檢測暗箱底部的轉動云臺、設置于所述轉動云臺上的透射平臺、設置在所述檢測暗箱內側面與檢測蛋品平齊的圖像采集儀,以及環繞所述圖像采集儀的環形反射光源; 所述透射平臺,頂部設有放置檢測蛋品的開孔,內部設有通過所述開孔向檢測蛋品發射光束的透射光源,并在所述轉動云臺的帶動下進行一周四次的均步旋轉; 所述處理模塊,通過所述圖像采集儀獲取所述透射光源開啟下采集的四個旋轉角度的透射圖像,并根據所述透射圖像確定蛋殼透射類型檢測的檢測結果,以及通過所述圖像采集儀獲取所述環形反射光源開啟下四個旋轉角度的反射圖像,并根據所述反射圖像確定反射類型檢測的檢測結果; 曝光處理模塊,用于采用自適應曝光算法持續調整曝光值,直至達到曝光值調整終止條件,并將調整后的曝光值用于所述圖像采集儀獲取透射圖像或反射圖像,所述自適應曝光算法包括: 獲取檢測蛋品的樣本圖形,提取樣本圖形中蛋品區域的中央矩形區域作為感興趣區域ROI; 使用索貝爾算子計算ROI的梯度,并根據ROI的梯度確定梯度均值; 計算ROI的亮度,并根據ROI的亮度計算亮度誤差; 根據梯度均值和亮度誤差調整曝光值; 其中,所述曝光值調整終止條件包括: 當連續多幀圖像的亮度誤差絕對值小于等于第一預設閾值,且ROI梯度均值的連續多幀波動率小于第二預設閾值,終止曝光值調整; 或者,曝光值已達硬件支持范圍邊界終止曝光值調整,單次調整周期內曝光值調整大于預設次數終止曝光值調整; 所述根據ROI的梯度確定梯度均值包括: ; 其中,為梯度均值,Ix,y為圖像在坐標x,y處的灰度值,和分別為水平或垂直方向的梯度,N為ROI像素總數; 所述根據ROI的亮度計算亮度誤差包括: ; 其中,為亮度誤差,為ROI內第i像素的歸一化亮度,為目標亮度; 所述根據梯度均值和亮度誤差調整曝光值,包括:設定初始曝光值為0,根據下式計算待應用的曝光值增量: ; 其中,為ROI的歸一化梯度均值,α為最大單步調整幅度,k為梯度敏感系數,β為亮度誤差抑制因子。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人華中農業大學,其通訊地址為:430070 湖北省武漢市洪山區獅子山1號華中農業大學;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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