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龍圖騰網獲悉山東理工大學申請的專利基于光譜的光學材料缺陷深度檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120253712B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510740585.9，技術領域涉及：G01N21/27；該發明授權基于光譜的光學材料缺陷深度檢測方法是由張起;張興南設計研發完成，并于2025-06-05向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于光譜的光學材料缺陷深度檢測方法在說明書摘要公布了：本發明公開了基于光譜的光學材料缺陷深度檢測方法，屬于缺陷檢測技術領域，包括以下步驟：獲取待檢測光學材料的高光譜圖像特征參數，基于高光譜圖像特征參數確定是否存在缺陷；若不存在缺陷，則檢測結束；若存在缺陷，則確定初步缺陷區域以及缺陷類型；獲取初步缺陷區域的拉曼光譜特征參數，并基于拉曼光譜特征參數確定最終缺陷區域；在最終缺陷區域進行太赫茲光譜深度掃描，得到太赫茲光譜特征參數，并構建缺陷深度信息圖譜；基于高光譜圖像特征參數、拉曼光譜特征參數和太赫茲光譜特征參數進行缺陷深度反演，得到缺陷深度預測結果。本發明解決了傳統方法難以準確檢測光學材料內部缺陷深度的問題，具有高精度、全面性和適應性。

本發明授權基于光譜的光學材料缺陷深度檢測方法在權利要求書中公布了：1.基于光譜的光學材料缺陷深度檢測方法，其特征在于，包括以下步驟： 獲取待檢測光學材料的高光譜圖像特征參數，基于高光譜圖像特征參數確定是否存在缺陷； 若不存在缺陷，則檢測結束； 若存在缺陷，則確定初步缺陷區域以及缺陷類型； 獲取初步缺陷區域的拉曼光譜特征參數，并基于拉曼光譜特征參數確定最終缺陷區域，包括以下步驟： 基于拉曼光譜儀對初步缺陷區域進行拉曼光譜掃描，得到各個缺陷坐標點對應的拉曼光譜數據； 對各個缺陷坐標點對應的拉曼光譜數據進行特征處理，得到各個缺陷坐標點對應的拉曼光譜特征參數； 基于各個缺陷坐標點對應的拉曼光譜特征參數確定初步缺陷區域的分子結構組成：將各個缺陷坐標點對應的拉曼光譜特征參數與已知的分子振動模式數據庫逐一比對，確定每個坐標點缺陷區域的分子結構組成；應力-拉曼位移關聯公式為，為拉曼位移，為應力系數，為應力； 確定各個缺陷坐標點應力作用前后拉曼峰位的差值，記為拉曼位移，基于應力-拉曼位移關聯公式確定初步缺陷區域的應力分布； 基于初步缺陷區域的分子結構組成和應力分布確定機器學習模型； 將各個缺陷坐標點對應的拉曼光譜特征參數作為機器學習模型的輸入，輸出各個缺陷坐標點屬于缺陷類型的概率值，將概率值大于概率閾值的缺陷坐標點記為最終缺陷區域坐標點； 將所有的最終缺陷區域坐標點連通，確定最終缺陷區域； 在最終缺陷區域進行太赫茲光譜深度掃描，得到太赫茲光譜特征參數，并構建缺陷深度信息圖譜； 基于高光譜圖像特征參數、拉曼光譜特征參數和太赫茲光譜特征參數進行缺陷深度反演，得到缺陷深度預測結果。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人山東理工大學，其通訊地址為：255000 山東省淄博市張店區新村西路266號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。