東友精細化工有限公司吳受蓮獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉東友精細化工有限公司申請的專利流動納米顆粒測量設備和使用該設備確定納米顆粒的方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114383980B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202111216640.2,技術領域涉及:G01N15/00;該發明授權流動納米顆粒測量設備和使用該設備確定納米顆粒的方法是由吳受蓮;金永勛;成準僖設計研發完成,并于2021-10-19向國家知識產權局提交的專利申請。
本流動納米顆粒測量設備和使用該設備確定納米顆粒的方法在說明書摘要公布了:本申請公開了流動納米顆粒測量設備和使用該設備確定納米顆粒的方法。該納米顆粒測量設備包括:流動室,所述流動室被配置成形成液態樣本流過的流動路徑;激光發生器,所述激光發生器被配置成生成第一激光束并將所述第一激光束輻照到所述流動室;多個檢測器,所述多個檢測器布置在所述流動室中,并被配置成檢測由所述第一激光束在所述流動室中生成的等離子體的沖擊波以及生成檢測信號;以及控制器,所述控制器被配置成從所述多個檢測器獲得所述檢測信號以及響應于所述檢測信號確定包含在所述液態樣本中的納米顆粒的類型和尺寸。
本發明授權流動納米顆粒測量設備和使用該設備確定納米顆粒的方法在權利要求書中公布了:1.一種流動納米顆粒測量設備,包括: 流動室,所述流動室被配置成形成液態樣本流過的流動路徑; 激光發生器,所述激光發生器被配置成生成第一激光束并將所述第一激光束輻照到所述流動室; 多個檢測器,所述多個檢測器布置在所述流動室處,并被配置成檢測所述流動室中由所述第一激光束誘導的等離子體的沖擊波以及生成檢測信號;以及 控制器,所述控制器被配置成從所述多個檢測器獲得所述檢測信號以及基于所述檢測信號確定包含在所述液態樣本中的納米顆粒的類型和尺寸, 其中,所述控制器包括: 振幅測量單元,所述振幅測量單元被配置成基于所述檢測信號來測量所述沖擊波的振幅;以及 頻率測量單元,所述頻率測量單元被配置成基于所述檢測信號來測量所述沖擊波的自然頻率, 其中,所述多個檢測器包括被布置成沿所述流動路徑彼此間隔開的第一檢測器和第二檢測器, 其中,所述第二檢測器布置成在所述流動路徑中位于比所述第一檢測器更下游的位置,以及 其中,所述控制器包括: 振幅比計算器,所述振幅比計算器被配置成提取由所述第一檢測器和所述第二檢測器測量的至少一個共同自然頻率,以及計算自然頻率振幅比,所述自然頻率振幅比為所述第一檢測器中對應于所述共同自然頻率的振幅與所述第二檢測器中對應于所述共同自然頻率的振幅的比率;以及 納米顆粒確定單元,所述納米顆粒確定單元被配置成基于預存儲在所述控制器中的數據和所述共同自然頻率來指定所述納米顆粒的類型,以及基于所述數據以及所述自然頻率振幅比來確定所述納米顆粒的尺寸。
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