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龍圖騰網(wǎng)獲悉成都航空職業(yè)技術(shù)學(xué)院申請(qǐng)的專利一種基于圖像處理的地質(zhì)災(zāi)害檢測(cè)方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN120355703B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202510820246.1，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06T7/00；該發(fā)明授權(quán)一種基于圖像處理的地質(zhì)災(zāi)害檢測(cè)方法是由陳宗杰;王強(qiáng);張琬琳設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-06-19向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種基于圖像處理的地質(zhì)災(zāi)害檢測(cè)方法在說(shuō)明書摘要公布了：本發(fā)明公開(kāi)了一種基于圖像處理的地質(zhì)災(zāi)害檢測(cè)方法，涉及災(zāi)害監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，包括以下步驟：S1、獲取待檢測(cè)區(qū)域的初始路面影像數(shù)據(jù)，并對(duì)初始路面影像數(shù)據(jù)進(jìn)行幾何校正，得到路面特征影像數(shù)據(jù)；S2、利用路面特征影像數(shù)據(jù)中斑點(diǎn)的外緣系數(shù)和像素點(diǎn)灰度值，對(duì)所有斑點(diǎn)進(jìn)行篩選剔除，將剩下的斑點(diǎn)作為再檢測(cè)區(qū)域；S3、對(duì)再檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行處理，得到路面的裂縫區(qū)域。本發(fā)明精準(zhǔn)定位裂縫區(qū)域，有助于及時(shí)發(fā)現(xiàn)地質(zhì)災(zāi)害的早期跡象，為后續(xù)的災(zāi)害預(yù)警、評(píng)估和防范提供關(guān)鍵依據(jù)，有助于采取及時(shí)有效的措施減少地質(zhì)災(zāi)害帶來(lái)的損失。

本發(fā)明授權(quán)一種基于圖像處理的地質(zhì)災(zāi)害檢測(cè)方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基于圖像處理的地質(zhì)災(zāi)害檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟： S1、獲取待檢測(cè)區(qū)域的初始路面影像數(shù)據(jù)，并對(duì)初始路面影像數(shù)據(jù)進(jìn)行幾何校正，得到路面特征影像數(shù)據(jù)； S2、利用路面特征影像數(shù)據(jù)中斑點(diǎn)的外緣系數(shù)和像素點(diǎn)灰度值，對(duì)所有斑點(diǎn)進(jìn)行篩選剔除，將剩下的斑點(diǎn)作為再檢測(cè)區(qū)域； S3、對(duì)再檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行處理，得到路面的裂縫區(qū)域； 所述S2包括以下子步驟： S21、提取路面特征影像數(shù)據(jù)的若干個(gè)斑點(diǎn)； S22、為各個(gè)斑點(diǎn)生成外緣系數(shù)； S23、利用斑點(diǎn)的外緣系數(shù)和內(nèi)部像素點(diǎn)的灰度值對(duì)斑點(diǎn)進(jìn)行篩選剔除，得到再檢測(cè)區(qū)域； 所述S22包括以下子步驟： S221、為各個(gè)斑點(diǎn)生成最小包圍圓，在最小包圍圓的邊緣提取四個(gè)等間距的邊緣點(diǎn)； S222、將四個(gè)邊緣點(diǎn)的灰度值組成斑點(diǎn)外緣特征矩陣； S223、將斑點(diǎn)外緣特征矩陣的最大特征值作為斑點(diǎn)的外緣系數(shù)； 所述S23包括以下子步驟： S231、提取斑點(diǎn)外緣中各個(gè)像素點(diǎn)的灰度值，并利用外緣系數(shù)為斑點(diǎn)構(gòu)建輪廓損失函數(shù)； S232、判斷斑點(diǎn)內(nèi)部像素點(diǎn)的灰度值以及輪廓損失函數(shù)是否滿足設(shè)定的斑點(diǎn)篩選條件，若是則保留斑點(diǎn)，否則剔除斑點(diǎn)； 所述S231中，斑點(diǎn)的輪廓損失函數(shù)的表達(dá)式為： ； 式中，表示對(duì)數(shù)函數(shù)，表示指數(shù)函數(shù)，表示斑點(diǎn)的外緣系數(shù)，表示斑點(diǎn)外緣上所有像素點(diǎn)的灰度值均值； 所述S232中，設(shè)定的斑點(diǎn)篩選條件的表達(dá)式為：；式中，表示斑點(diǎn)外緣上內(nèi)部像素點(diǎn)的灰度值均值，表示斑點(diǎn)的輪廓損失函數(shù)，表示設(shè)定的折中因子，表示對(duì)數(shù)函數(shù)，表示指數(shù)函數(shù)。

如需購(gòu)買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)＠麢?quán)人成都航空職業(yè)技術(shù)學(xué)院，其通訊地址為：610000 四川省成都市龍泉驛區(qū)車城東七路699號(hào)；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。