瑞昱半導體股份有限公司盧彥儒獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉瑞昱半導體股份有限公司申請的專利測試電路系統(tǒng)的方法及相關電路系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權專利權,本發(fā)明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115308579B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉:該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為:202110494515.1,技術領域涉及:G01R31/3185;該發(fā)明授權測試電路系統(tǒng)的方法及相關電路系統(tǒng)是由盧彥儒設計研發(fā)完成,并于2021-05-07向國家知識產權局提交的專利申請。
本測試電路系統(tǒng)的方法及相關電路系統(tǒng)在說明書摘要公布了:電路系統(tǒng)包括第一電路、第二電路及比較器。第二電路與第一電路具有實質相同的結構。在測試模式中,電路系統(tǒng)使第一電路及第二電路同步執(zhí)行實質相同的測試操作。在執(zhí)行測試操作的過程中,比較器持續(xù)比較第一電路內部產生的第一中間信號及第二電路內部產生的與第一中間信號相對應的第二中間信號。在第一中間信號與第二中間信號不同時,電路系統(tǒng)使第一電路及第二電路停止執(zhí)行測試操作,并使第一電路及第二電路執(zhí)行掃描轉儲操作以記錄第一電路所傳輸的信號及第二電路所傳輸的信號。
本發(fā)明授權測試電路系統(tǒng)的方法及相關電路系統(tǒng)在權利要求書中公布了:1.一種電路系統(tǒng),包括: 一第一電路,用以執(zhí)行至少一應用操作; 一第二電路,與所述第一電路具有實質相同的結構,用以執(zhí)行所述至少一應用操作;及 一比較器; 其中: 在一測試模式中,所述第一電路及所述第二電路同步執(zhí)行實質相同的一測試操作;在所述第一電路及所述第二電路同步執(zhí)行所述測試操作的過程中,所述比較器用以比較所述第一電路內部產生的一第一中間信號及所述第二電路內部產生的與所述第一中間信號相對應的一第二中間信號;及 在所述比較器判斷所述第一中間信號與所述第二中間信號不同時,所述第一電路及所述第二電路停止執(zhí)行所述測試操作并執(zhí)行一掃描轉儲操作以獲取所述第一電路當下產生的多個第一傳輸信號及所述第二電路當下產生的多個第二傳輸信號。
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