英麥科(廈門)微電子科技有限公司余詩李獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！
龍圖騰網獲悉英麥科(廈門)微電子科技有限公司申請的專利一種晶圓測試結構及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN111554662B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202010522037.6，技術領域涉及：H01L23/544；該發明授權一種晶圓測試結構及方法是由余詩李;王子豪;李俊成設計研發完成，并于2020-06-10向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種晶圓測試結構及方法在說明書摘要公布了：本發明涉及晶圓測試領域。本發明公開了一種晶圓測試結構及方法，其中，晶圓測試結構包括晶圓以及形成于晶圓上的多個集群單元，集群單元包括多個IC和一測試控制單元，各個IC的測試端分別通過一開關電路與測試控制單元的輸入端連接，開關電路的控制端接測試控制單元的控制輸出端，測試控制單元設有輸出端，用于與CP測試針卡通信連接。本發明可以減少CP測試針卡數量及扎針次數，提高晶圓CP測試效率，降低晶圓CP測試成本。
本發明授權一種晶圓測試結構及方法在權利要求書中公布了：1.一種晶圓測試結構，其特征在于：包括晶圓以及形成于晶圓上的多個集群單元，集群單元包括多個IC和一測試控制單元，各個IC的測試端分別通過一開關電路與測試控制單元的輸入端連接，開關電路的控制端接測試控制單元的控制輸出端，測試控制單元設有輸出端，用于與CP測試針卡通信連接； 所述晶圓上還形成有與多個集群單元連接的一電源線和一地線，電源線用于為各個集群單元提供電源； 每個集群單元的多個IC平均分成N組，測試控制單元設有N個輸入端，N個輸入端與N組IC一一對應，其中，N為大于1的整數，每組IC的IC數量為n個，測試控制單元設有n個控制輸出端，每組IC所對應的n個開關電路的控制端分別與n個控制輸出端連接； 所述測試控制單元由MCU處理器和ADC電路構成，MCU處理器與ADC電路連接，ADC電路的輸入端與測試控制單元的N個輸入端連接。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人英麥科(廈門)微電子科技有限公司，其通訊地址為：361000 福建省廈門市中國(福建)自由貿易實驗區廈門片區港中路1702號410單元；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
免責聲明
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
開放平臺
擔保交易
惠及多方
會員特惠
專屬平臺
適合多方
數據共享
功能齊全
皖公網安備 34010402703815號