中國科學(xué)院上海高等研究院陳雨獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國科學(xué)院上海高等研究院申請的專利X射線吸收譜的能量校準(zhǔn)方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN120369751B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202510856665.0,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01N23/085;該發(fā)明授權(quán)X射線吸收譜的能量校準(zhǔn)方法是由陳雨;李炯;張碩;甘濤;高倩設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2025-06-25向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本X射線吸收譜的能量校準(zhǔn)方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及一種X射線吸收譜的能量校準(zhǔn)方法,包括:提供一種X射線吸收譜儀,包括單色器、第一電離室和第二電離室;對待測樣品進(jìn)行X射線吸收譜實(shí)驗(yàn),以得到待測樣品的吸收系數(shù)隨單色器角度的變化曲線及其對應(yīng)的第一電離室測得的X射線的強(qiáng)度隨單色器角度的變化曲線;確定單色器晶體Glitch點(diǎn)處的單色器角度;確定待測樣品的單色器晶體Glitch點(diǎn)處的單色器角度對應(yīng)的單色光的能量;確定單色器Glitch點(diǎn)處的布拉格角度;待測樣品的單色器角度與布拉格角度之間的映射關(guān)系;確定待測樣品的單色器角度與單色光的能量之間的對應(yīng)關(guān)系;將待測樣品的吸收系數(shù)隨單色器角度的變化曲線轉(zhuǎn)換為待測樣品的吸收系數(shù)隨單色光的能量的變化曲線。
本發(fā)明授權(quán)X射線吸收譜的能量校準(zhǔn)方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種X射線吸收譜的能量校準(zhǔn)方法,其特征在于,包括以下步驟: S100:提供一種X射線吸收譜儀,包括沿X射線傳輸方向依次設(shè)置的單色器、第一電離室和第二電離室; S200:將待測樣品放置在所述第一電離室和所述第二電離室之間,并對所述待測樣品進(jìn)行X射線吸收譜實(shí)驗(yàn),以得到所述待測樣品的吸收系數(shù)隨單色器角度的變化曲線以及所述待測樣品對應(yīng)的第一電離室測得的X射線的強(qiáng)度隨單色器角度的變化曲線; S300:根據(jù)所述待測樣品對應(yīng)的第一電離室測得的X射線的強(qiáng)度隨單色器角度的變化曲線確定單色器晶體Glitch點(diǎn)處的單色器角度; S400:基于預(yù)先獲取的單色器晶體Glitch點(diǎn)的能量數(shù)據(jù)庫確定所述待測樣品的單色器晶體Glitch點(diǎn)處的單色器角度對應(yīng)的單色光的能量; S500:基于所述待測樣品的單色器晶體Glitch點(diǎn)處的單色器角度對應(yīng)的單色光的能量和布拉格公式確定單色器Glitch點(diǎn)處的布拉格角度; S600:基于單色器晶體Glitch點(diǎn)處的單色器角度與布拉格角度確定所述待測樣品的單色器角度與布拉格角度之間的映射關(guān)系,作為第一映射關(guān)系; S700:基于布拉格公式和所述第一映射關(guān)系,確定所述待測樣品的單色器角度與單色光的能量之間的對應(yīng)關(guān)系; S800:基于所述待測樣品的單色器角度與單色光的能量之間的對應(yīng)關(guān)系,將所述待測樣品的吸收系數(shù)隨單色器角度的變化曲線轉(zhuǎn)換為所述待測樣品的吸收系數(shù)隨單色光的能量的變化曲線。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人中國科學(xué)院上海高等研究院,其通訊地址為:201210 上海市浦東新區(qū)海科路99號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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