北京時(shí)代民芯科技有限公司;北京微電子技術(shù)研究所由立華獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉北京時(shí)代民芯科技有限公司;北京微電子技術(shù)研究所申請(qǐng)的專利基于非高斯分布的自適應(yīng)實(shí)時(shí)多徑消除及抗差定位方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN113848570B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為:202110988347.1,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01S19/20;該發(fā)明授權(quán)基于非高斯分布的自適應(yīng)實(shí)時(shí)多徑消除及抗差定位方法是由由立華;畢波;陳啟亮;高參;吳雨航設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2021-08-26向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。
本基于非高斯分布的自適應(yīng)實(shí)時(shí)多徑消除及抗差定位方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種基于非高斯分布的自適應(yīng)實(shí)時(shí)多徑消除及抗差定位方法,不對(duì)發(fā)生故障或偏差的衛(wèi)星個(gè)數(shù)做出假定,而是修改了傳統(tǒng)定位模型中誤差的高斯分布假定,將其變?yōu)楦咚够旌戏植?,即一種非高斯分布,通過基于實(shí)時(shí)觀測(cè)數(shù)據(jù)的極大似然方法求解參數(shù),自適應(yīng)的計(jì)算每一個(gè)衛(wèi)星故障偏差范圍大小的概率分布情況,可用于多個(gè)故障下的識(shí)別及抗差定位,也可用于多徑環(huán)境下的抗差定位及多徑消除,本發(fā)明解決了現(xiàn)有的RAIM和抗差定位方法的缺點(diǎn),目前現(xiàn)有的故障檢測(cè)及識(shí)別方法運(yùn)算量較大,依賴于故障個(gè)數(shù)的先驗(yàn)假設(shè),并且誤判率較高,而本發(fā)明所提供的方法具有較高的故障檢測(cè)成功率,同時(shí)運(yùn)算量小速度快,且具有高精度和穩(wěn)健性。
本發(fā)明授權(quán)基于非高斯分布的自適應(yīng)實(shí)時(shí)多徑消除及抗差定位方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種基于非高斯分布的自適應(yīng)實(shí)時(shí)多徑消除及抗差定位方法,其特征在于,包含以下步驟: 1建立定位周期內(nèi)接收機(jī)的定位解算模型,并將其線性轉(zhuǎn)換得到標(biāo)準(zhǔn)化定位解算模型Y=Hβ+ε,ε~N0,σ2I,其中Y=y(tǒng)1,...,ynT為已知的各衛(wèi)星觀測(cè)量矩陣的標(biāo)準(zhǔn)化變換,H=h1,...,hnT為n×p維已知觀測(cè)定位幾何矩陣的標(biāo)準(zhǔn)化變換,n為總的衛(wèi)星個(gè)數(shù),β為p×1維未知參數(shù)向量,ε為n×1維觀測(cè)噪聲矩陣的標(biāo)準(zhǔn)化變換,服從正態(tài)分布N0,σ2I,σ2為方差系數(shù),I為單位對(duì)角陣; 2使用高斯混合分布對(duì)各衛(wèi)星觀測(cè)量建模,定義n維未知向量Z為隱變量,其中每一個(gè)元素Zi∈{1,2,3},i=1,2,...,n,得到各衛(wèi)星觀測(cè)量的高斯混合分布模型其中γk為Zi的先驗(yàn)概率, 令表示各衛(wèi)星觀測(cè)量的高斯混合分布模型中全部待求解的未知參數(shù)構(gòu)成的待求解參數(shù)向量,其中 μ=μ1,...,μKT,μ1=0,σ2=σ2 1,...,σ2 KT,γ=γ1,...,γKT,K=3,γ3=1-γ1-γ2; 3基于EM算法迭代求解待求解參數(shù)向量θ,得到待求解參數(shù)向量最優(yōu)值 4根據(jù)待求解參數(shù)向量最優(yōu)值計(jì)算定位實(shí)時(shí)保護(hù)性水平,并與給定的告警門限比較,判斷定位結(jié)果是否可靠; 5將待求解參數(shù)向量最優(yōu)值中的代入步驟1中所得標(biāo)準(zhǔn)化定位解算模型中,得到檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量,根據(jù)檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量與假設(shè)檢驗(yàn)的拒絕域比較,判斷每顆衛(wèi)星是否存在影響定位的故障。
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