度亙核芯光電技術(蘇州)股份有限公司王瓚獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉度亙核芯光電技術(蘇州)股份有限公司申請的專利芯片檢測方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120445596B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510961800.8，技術領域涉及：G01M11/02；該發明授權芯片檢測方法及裝置是由王瓚;王聰;余楊杰;劉育銜;楊國文設計研發完成，并于2025-07-14向國家知識產權局提交的專利申請。
本芯片檢測方法及裝置在說明書摘要公布了：本發明提供了一種芯片檢測方法及裝置，涉及激光器的技術領域，本發明提供的芯片檢測方法包括步驟：步驟S10.獲取待檢測芯片發出的橫電模光的近場分布圖像和橫磁模光的近場分布圖像；步驟S20.根據橫電模光的近場分布圖像和橫磁模光的近場分布圖像計算待檢測芯片的偏振比K的值，其中，偏振比K為橫電模光或者橫磁模光的偏振比；步驟S30.將計算得到的偏振比K的值與標準范圍進行比較；當偏振比K的值在標準范圍內時，確定待檢測芯片的應力合格；當偏振比K的值不在標準范圍內時，確定待檢測芯片的應力不合格;步驟S40.對于應力不合格的待檢測芯片，根據其橫磁模光的近場分布圖像得出待檢測芯片上導致應力不合格的缺陷位置。
本發明授權芯片檢測方法及裝置在權利要求書中公布了：1.一種芯片檢測方法，其特征在于，包括步驟： 步驟S10.獲取待檢測芯片（2）發出的橫電模光的近場分布圖像和橫磁模光的近場分布圖像； 步驟S20.根據橫電模光的近場分布圖像和橫磁模光的近場分布圖像計算待檢測芯片（2）的偏振比K的值，其中，所述偏振比K為橫電模光或者橫磁模光的偏振比； 步驟S30.將計算得到的偏振比K的值與標準范圍進行比較； 當偏振比K的值在標準范圍內時，確定待檢測芯片（2）的應力合格； 當偏振比K的值不在標準范圍內時，確定待檢測芯片（2）的應力不合格; 步驟S40.對于應力不合格的待檢測芯片（2），根據其橫磁模光的近場分布圖像得出待檢測芯片（2）上導致應力不合格的缺陷位置。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人度亙核芯光電技術(蘇州)股份有限公司，其通訊地址為：215000 江蘇省蘇州市中國(江蘇)自由貿易試驗區蘇州片區蘇州工業園區金雞湖大道99號東北區32幢；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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