愛克斯瑞真空技術(蘇州)有限公司王炳獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉愛克斯瑞真空技術(蘇州)有限公司申請的專利一種X射線透射和背散射一體檢測成像方法、系統及裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120431122B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510933547.5,技術領域涉及:G06T7/13;該發明授權一種X射線透射和背散射一體檢測成像方法、系統及裝置是由王炳;王克涵;唐天權設計研發完成,并于2025-07-08向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種X射線透射和背散射一體檢測成像方法、系統及裝置在說明書摘要公布了:本申請涉及X射線成像技術領域,具體涉及一種X射線透射和背散射一體檢測成像方法、系統及裝置,該方法包括:采集待檢測目標的背散射圖像;獲取背散射圖像中的各閉合輪廓,提取各閉合輪廓上的各邊緣;對于存在閉合輪廓內的各像素點,獲取各像素點的離散系數與特征系數,通過所述離散系數與所述特征系數,獲取各像素點的鄰域大小調節值;構建各像素點的鄰域窗口,通過所述鄰域大小調節值,結合各像素點的鄰域窗口的邊長的預設初始值,獲取各像素點的鄰域窗口的邊長的優化值;基于所述優化值,結合濾波算法,對背散射圖像進行去噪處理。本申請旨在通過調整鄰域窗口的大小,在提高去噪效果的同時,避免過度平滑和細節丟失。
本發明授權一種X射線透射和背散射一體檢測成像方法、系統及裝置在權利要求書中公布了:1.一種X射線透射和背散射一體檢測成像方法,其特征在于,該方法包括以下步驟: 采集待檢測目標的背散射圖像; 獲取背散射圖像中的各閉合輪廓,通過各閉合輪廓上相鄰像素點的梯度方向之間的差異,提取各閉合輪廓上的各邊緣;對于存在閉合輪廓內的各像素點,通過各像素點所在閉合輪廓內所有像素點的灰度值的離散度,以及閉合輪廓上的不同邊緣之間的距離,獲取各像素點的離散系數; 預設各像素點的各近鄰像素點,通過各像素點所在閉合輪廓上的邊緣與所述各近鄰像素點之間的位置關系,以及各像素點的預設近鄰范圍內的邊緣數量,獲取各像素點的特征系數; 通過所述離散系數與所述特征系數,獲取各像素點的鄰域大小調節值; 構建各像素點的鄰域窗口,通過所述鄰域大小調節值,結合各像素點的鄰域窗口的邊長的預設初始值,獲取各像素點的鄰域窗口的邊長的優化值;基于所述優化值,結合濾波算法,對背散射圖像進行去噪處理; 所述鄰域大小調節值的計算方法為:將所述特征系數映射為正數,記為映射正數;所述鄰域大小調節值為各像素點的離散系數與所述映射正數之比; 所述優化值的獲取方法為:計算所述鄰域大小調節值的歸一化值與所述預設初始值的乘積,所述優化值為所述乘積向下取奇數整數的計算結果。
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