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龍圖騰網獲悉華中科技大學申請的專利超材料內稟特征參數的標定方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120408386B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510924277.1，技術領域涉及：G06F18/2415；該發明授權超材料內稟特征參數的標定方法及裝置是由李碩;李立設計研發完成，并于2025-07-04向國家知識產權局提交的專利申請。

本超材料內稟特征參數的標定方法及裝置在說明書摘要公布了：本發明提供一種超材料內稟特征參數的標定方法及裝置，方法包括：通過經典均質化技術和非經典均質化技術分別獲得不同晶格的經典等效性能參數和尺寸依賴的等效性能參數；以超材料的幾何參數描述符作為輸入特征，以均質化技術獲得的結果作為輸出目標，構建訓練集；基于徑向基核函數處理訓練集，以構建輸入特征的協方差矩陣；基于協方差矩陣，優化徑向基核函數，得到對應的高斯過程回歸模型；將待標定超材料的幾何參數描述符輸入至高斯過程回歸模型，得到等效性能參數預測值，并基于等效性能參數預測值，結合非經典均質化模型確定待標定超材料的內稟特征參數。本發明可以解決超材料的內稟特征參數難以精確高效標定的問題。

本發明授權超材料內稟特征參數的標定方法及裝置在權利要求書中公布了：1.一種超材料內稟特征參數的標定方法，其特征在于，包括： 對超材料進行均質化分析，獲取超材料的經典等效性能參數和尺寸依賴的等效性能參數； 以超材料的幾何參數描述符作為輸入特征，以所述超材料的經典等效性能參數和所述尺寸依賴的等效性能參數作為輸出目標，構建訓練集； 基于徑向基核函數處理所述訓練集，以構建輸入特征的協方差矩陣； 基于所述協方差矩陣，優化所述徑向基核函數，得到對應的高斯過程回歸模型； 將待標定超材料的幾何參數描述符輸入至所述高斯過程回歸模型，得到等效性能參數預測值，并基于所述等效性能參數預測值，確定待標定超材料的內稟特征參數； 所述等效性能參數預測值，包括：經典等效性能參數預測值和尺寸依賴的等效性能參數預測值； 基于所述等效性能參數預測值，確定待標定超材料的內稟特征參數，包括： 基于所述經典等效性能參數預測值和所述尺寸依賴的等效性能參數預測值，以及超材料結構的宏觀厚度，確定待標定超材料的內稟特征參數； 待標定超材料的內稟特征參數采用非經典均質化模型計算得到，所述非經典均質化模型為： 其中，是尺寸依賴的等效性能參數預測值，是經典等效性能參數預測值，是待標定超材料的內稟特征參數，即非局部內稟特征長度，H是超材料結構的宏觀厚度。

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