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龍圖騰網獲悉江西兆馳半導體有限公司申請的專利一種垂直結構LED晶粒分選后質檢方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115910860B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211404061.5，技術領域涉及：H01L21/67；該發明授權一種垂直結構LED晶粒分選后質檢方法是由朱兵兵;王曉明;趙曉明;董國慶;文國昇;金從龍設計研發完成，并于2022-11-10向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種垂直結構LED晶粒分選后質檢方法在說明書摘要公布了：本發明提供了一種垂直結構LED晶粒分選后質檢方法，通過將晶圓的原始標準數據與質檢BIN晶粒數據進行對比分析，分析項目：電壓、波長、亮度，按標準數據中電壓、亮度、波長數據的標準范圍進行對比，以此分類作為成品入庫，利用導電膜收集晶圓中晶粒，同時拋出收集晶圓中晶粒原始數據，點測機回測導電膜收集晶圓中晶粒比對原始標準數據，得到良率管控，提前防止切割產出不良晶粒流入客戶端，有效管控產品NG異常率，有效卡控LED晶粒產品質量，解決產品批次異常、分類混亂的問題，保證LED晶粒產品的質量及可靠性。

本發明授權一種垂直結構LED晶粒分選后質檢方法在權利要求書中公布了：1.一種垂直結構LED晶粒分選后質檢方法，其特征在于：包括以下步驟： S1：利用點測機對晶圓進行全測，得到所述晶圓中每顆晶粒的測試數據，并將每顆晶粒的所述測試數據及對應的坐標上傳計算機系統； S2：利用切割機對所述晶圓進行切割，以得到多顆離散的晶粒； S3：利用分選機根據晶粒坐標，電壓、波長、亮度進行分選，坐標取晶圓直徑23位置取樣，生產批次有P、Q、Y三類，同類特征劃分為同類批次，以此分選出N個晶圓，計算機系統根據P、Q、Y三類批次按每批選取若干個晶圓，分選機在每個被選取晶圓的不同位置分選若干顆晶粒到導電膜，根據晶粒的測試數據及坐標進行分類，使晶粒在所述導電膜上呈相對坐標排列整齊，將所述導電膜收集的晶粒送到點測機的質檢BIN進行晶粒測試； S4：根據所述導電膜收集多個晶粒位于晶圓處的坐標，得到步驟S1中與坐標對應的測試數據，將其定義為標準數據，將標準數據上傳計算機系統； S5：用點測機的質檢BIN進行晶粒全測，具體晶粒包含同類特征劃分為同類批次晶圓直徑23位置的全部晶粒，測試條件按步驟S1相同測試條件進行測試，得到質檢BIN晶粒數據； S6：將所述質檢BIN晶粒數據上傳計算機系統； S7：將所述標準數據與所述質檢BIN晶粒數據進行對比分析，判斷所述質檢BIN晶粒數據是否處于所述標準數據的標準范圍內；若是，則根據步驟S3同類特征劃分為P、Q、Y三類的同類批次類型，將所述質檢BIN晶粒數據符合標準范圍、且與步驟S5中測試晶粒屬于同批次類型的未測試晶粒作為成品入庫，按晶粒數據良率達成率、形態完整度及表面外觀進行優次分類，其中，優品列為a檔，次品列為b檔。

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