中國核工業華興建設有限公司余世安獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國核工業華興建設有限公司申請的專利一種圓臺形穹頂斜面澆筑層檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115420239B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211045228.3，技術領域涉及：G01B21/08；該發明授權一種圓臺形穹頂斜面澆筑層檢測方法是由余世安;單意志;黃永智;姜銳;徐衛;王朝設計研發完成，并于2022-08-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種圓臺形穹頂斜面澆筑層檢測方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種圓臺形穹頂斜面澆筑層檢測方法，屬于建筑施工領域，核島頂部設環形SC結構，所述的SC結構頂部安裝圓臺形穹頂，所述的穹頂外部斜面設置澆筑層，將穹頂斜面澆筑層實時測量得到的測量點三維坐標，通過公式轉換為：以經過穹頂中心軸線和測量點的面，與SC結構頂部的兩個交點中，靠近測量點的那個點為中心原點；指向穹頂圓心的半徑方向為橫軸、SC結構內側頂部標高為縱軸的二維坐標（R,H），再通過公式得到穹頂斜面澆筑層測量點到穹頂斜面的垂直距離P，本發明提供的方法能直觀快速的判斷澆筑面施工是否合格，提高了施工效率。
本發明授權一種圓臺形穹頂斜面澆筑層檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種圓臺形穹頂斜面澆筑層檢測方法，核島頂部設環形SC結構，所述的SC結構頂部安裝圓臺形穹頂，所述的穹頂外部斜面設置澆筑層，其特征在于：將穹頂斜面澆筑層實時測量得到的測量點三維坐標X,Y,Z，通過公式 轉換為：以經過穹頂中心軸線和測量點的面，與SC結構頂部的兩個交點中，靠近測量點的那個點為中心原點0,0；指向穹頂圓心的半徑方向為橫軸、SC結構內側頂部標高為縱軸的二維坐標R,H， 其中A為穹頂底部半徑，B為SC結構內側頂部距地面的相對標高，X0,Y0為穹頂中心在三維坐標系下的水平面坐標； 再通過公式 P＝S*sin△α 得到穹頂斜面澆筑層測量點到穹頂斜面的垂直距離P， 其中S為測量點至二維坐標系原點的距離，△α為測量點角度與穹頂斜面坡度角α的差值，將P值與澆筑層預計厚度比較，確定澆筑層或者預埋件所處位置是否符合要求。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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