松下知識產權經營株式會社石川篤獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉松下知識產權經營株式會社申請的專利光學濾波器陣列、光檢測裝置及光檢測系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN113439203B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202080007402.8,技術領域涉及:G01N21/31;該發明授權光學濾波器陣列、光檢測裝置及光檢測系統是由石川篤;稻田安壽;久田和也設計研發完成,并于2020-11-06向國家知識產權局提交的專利申請。
本光學濾波器陣列、光檢測裝置及光檢測系統在說明書摘要公布了:有關本發明的一形態的光學濾波器陣列在生成N個N是4以上的整數波段各自的圖像數據的光檢測裝置中使用。上述光學濾波器陣列具備多個光學濾波器。上述多個光學濾波器包括上述N個波段各自中的透射率互不相同的多個種類的光學濾波器。當設上述多個光學濾波器對于上述N個波段中的第i波段i是1以上且N以下的整數的光的透射率的平均值為μi時,對于上述N個波段的上述透射率的平均值μi的標準偏差是0.13以下。
本發明授權光學濾波器陣列、光檢測裝置及光檢測系統在權利要求書中公布了:1.一種光學濾波器陣列,在生成N個波段各自的圖像數據的光檢測裝置中使用,N是4以上的整數,其中, 具備多個光學濾波器; 上述多個光學濾波器包括上述N個波段各自中的透射率互不相同的多個種類的光學濾波器; 當設上述多個光學濾波器對于上述N個波段中的第i波段的光的透射率的平均值為μi時, 對于上述N個波段的上述透射率的平均值μi的標準偏差σμ由下述數式1表示: [數式1] 其中, i是1以上且N以下的整數; 上述透射率的平均值μi的標準偏差σμ是0.13以下。
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