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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利一種大口徑反射鏡輪廓檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120274675B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510736505.2，技術領域涉及：G01B11/24；該發明授權一種大口徑反射鏡輪廓檢測方法是由羅霄;熊玲;盧中陽;張學軍設計研發完成，并于2025-06-04向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種大口徑反射鏡輪廓檢測方法在說明書摘要公布了：本發明涉及反射鏡輪廓檢測技術領域，具體提供一種大口徑反射鏡輪廓檢測方法，在非接觸點位移傳感器陣列中設置一個一維或二維掃描傳感器，形成輪廓檢測裝置，促進線激光掃描傳感器遍歷反射鏡，遍歷過程中一維或二維掃描傳感器和非接觸點位移傳感器陣列對反射鏡的距離進行周期采集，通過一維或二維掃描傳感器獲得反射鏡上高密度采樣點的距離數據；通過非接觸點位移傳感器陣列獲得反射鏡上低密度采樣點的距離數據，低密度采樣點校正后，將高密度采樣點距離數據和低密度輪廓面形進行擬合，生成反射鏡的高密度輪廓面形。本發明結合了非接觸點位移傳感器和激光掃描傳感器的優勢，保證檢測精度的同時，提高了數據點密度。

本發明授權一種大口徑反射鏡輪廓檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種大口徑反射鏡輪廓檢測方法，其特征在于，包括： 構建非接觸點位移傳感器陣列，其包括設于同一平面內多個等距的非接觸點位移傳感器，將所述非接觸點位移傳感器陣列中至少一個非接觸點位移傳感器替換為一維或二維掃描傳感器，或在所述非接觸點位移傳感器陣列中任意兩個非接觸點位移傳感器之間設置一個所述一維或二維掃描傳感器； 使線激光掃描傳感器遍歷反射鏡，遍歷過程中所述一維或二維掃描傳感器和所述非接觸點位移傳感器陣列對反射鏡的距離進行周期采集，所述非接觸點位移傳感器陣列相鄰兩次采樣的采樣點部分重合；通過所述一維或二維掃描傳感器獲得反射鏡上高密度采樣點的距離數據；通過所述非接觸點位移傳感器陣列獲得反射鏡上低密度采樣點的距離數據，每個低密度采樣點的距離數據包括多個不同非接觸點位移傳感器采集的距離數據； 以同一低密度采樣點不同非接觸點位移傳感器采集的距離相等為原則，對低密度采樣點的距離數據進行校正，并利用所有低密度采樣點校正后的距離數據擬合獲得反射鏡的高精度低密度輪廓面形； 將所述一維或二維掃描傳感器獲得的高密度采樣點距離數據和高精度低密度輪廓面形進行融合，生成反射鏡的高精度高密度輪廓面形。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，其通訊地址為：130033 吉林省長春市經濟技術開發區東南湖大路3888號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。