北京特思迪半導體設備有限公司汪岳鵬獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京特思迪半導體設備有限公司申請的專利譜學測量數據中重疊峰的識別方法、厚度測量方法及設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120234593B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510727446.2，技術領域涉及：G06F18/213；該發明授權譜學測量數據中重疊峰的識別方法、厚度測量方法及設備是由汪岳鵬;蔣繼樂設計研發完成，并于2025-06-03向國家知識產權局提交的專利申請。
本譜學測量數據中重疊峰的識別方法、厚度測量方法及設備在說明書摘要公布了：本發明提供一種譜學測量數據中重疊峰的識別方法、厚度測量方法及設備，涉及數據處理技術領域。該方法包括：獲取目標譜學測量數據；對目標譜學測量數據進行峰值檢測，得到主峰識別結果；基于主峰識別結果識別第二峰值與主峰峰值的相對位置；基于目標譜學測量數據及相對位置確定自變量范圍，并生成包含主峰峰值的半邊測量結果；使用自定義函數對半邊測量結果進行擬合，得到第一擬合函數，第一擬合函數中包含主峰位置；將目標譜學測量數據中的全局自變量代入第一擬合函數，得到第一擬合結果；基于目標譜學測量數據及第一擬合結果得到第二峰數據；使用自定義函數對第二峰數據進行擬合，得到第二擬合函數，第二擬合函數中包含第二峰位置。
本發明授權譜學測量數據中重疊峰的識別方法、厚度測量方法及設備在權利要求書中公布了：1.一種譜學測量數據中重疊峰的識別方法，其特征在于，包括： 獲取目標譜學測量數據；所述目標譜學測量數據中包含所述重疊峰的數據，所述重疊峰包括主峰及第二峰； 對所述目標譜學測量數據進行峰值檢測，得到主峰識別結果； 基于所述目標譜學測量數據及主峰識別結果確定自變量范圍，并生成包含所述主峰峰值的半邊測量結果； 使用自定義函數對所述半邊測量結果進行擬合，得到第一擬合函數，所述第一擬合函數中包含主峰位置； 將所述目標譜學測量數據中的全局自變量代入所述第一擬合函數，得到第一擬合結果； 基于所述目標譜學測量數據及第一擬合結果得到第二峰數據； 使用所述自定義函數對所述第二峰數據進行擬合，得到第二擬合函數，所述第二擬合函數中包含第二峰位置。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京特思迪半導體設備有限公司，其通訊地址為：101300 北京市順義區杜楊北街3號院6號樓(順創)；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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