遼寧隆燁科技有限公司張賡健獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉遼寧隆燁科技有限公司申請的專利電子元件性能數據監測方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120234701B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510728354.6，技術領域涉及：G06F18/2415；該發明授權電子元件性能數據監測方法及系統是由張賡健;王亮;井慶文;張星設計研發完成，并于2025-06-03向國家知識產權局提交的專利申請。
本電子元件性能數據監測方法及系統在說明書摘要公布了：本發明公開了電子元件性能數據監測方法及系統，包括：基于電子元件的工作歷史數據，輸入LSTM神經網絡模型進行訓練，構建電子元件性能預測模型；將當前電子元件表面溫度場分布數據、局部放電特征量及漏電流動態參數輸入電子元件性能預測模型中，獲取未來時間段內電子元件性能的多種預測變化趨勢函數；將其與實時采集獲取的電子元件性能實際數據進行比對，計算誤差值，獲取其中誤差最小的預測數據；進行動態誤差分析，生成模型修正參數；對電子元件性能預測模型進行在線參數更新，形成閉環優化系統。本發明的優點在于：通過對比預測模型和多維度實時數據，精準預測電子元件的性能變化，通過閉環優化機制，確保電子元件的長期穩定性和可靠性。
本發明授權電子元件性能數據監測方法及系統在權利要求書中公布了：1.電子元件性能數據監測方法，其特征在于，包括： 基于電子元件的工作歷史數據，輸入LSTM神經網絡模型進行訓練，構建電子元件性能預測模型，獲取電子元件的性能隨工作時間的變化函數； 獲取當前電子元件表面溫度場分布數據、局部放電特征量及漏電流動態參數，輸入電子元件性能預測模型中，基于各因素的變化，獲取未來時間段內電子元件性能的多種預測變化趨勢函數； 基于獲取的多種預測變化趨勢函數數據，將其與實時采集獲取的電子元件性能實際數據進行比對，計算誤差值，獲取其中誤差最小的預測數據； 基于誤差最小的預測數據，進行動態誤差分析，生成模型修正參數； 基于模型修正參數對電子元件性能預測模型進行在線參數更新，形成閉環優化系統。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人遼寧隆燁科技有限公司，其通訊地址為：113000 遼寧省撫順市清原滿族自治縣清原鎮西嶺徐家墳溝；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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